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J-GLOBAL ID：201402268713656717   整理番号：14A0100977

低角散乱電子を用いた軽元素の実空間観察

Real-Space Imaging of Light Elements by Annular Bright-Field Scanning Transmission Electron Microscopy

著者 (6件)： 柴田直哉 (東大 大学院工学系研究科) ,  柴田直哉 (JST-さきがけ) ,  FINDLAY Scott D. (Monash Univ.) ,  幾原雄一 (東大 大学院工学系研究科) ,  幾原雄一 (ファインセラミックスセ ナノ構造研) ,  幾原雄一 (東北大 原子分子材料科学高等研究機構)
資料名： 日本結晶学会誌  (Journal of the Crystallographic Society of Japan)
巻： 55  号： 6  ページ： 362-368  発行年： 2013年12月31日 
JST資料番号： G0232A  ISSN： 0369-4585  CODEN： NKEGAF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 軽元素の原子配列探査も可能な環状明視野走査型透過電子顕微鏡法(ABF STEM)の原理と,実際に軽元素化合物を用いて調査した結果を報告する。さらに,ABF STEMの原理を応用して,像のコントラストを上げた改良型についても提示する。

シソーラス用語： *元素 ,  観察 ,  *透過型走査電子顕微鏡 ,  *電子顕微鏡観察 ,  視野 ,  *化合物 ,  電子散乱 ,  *コントラスト
準シソーラス用語： *軽元素 ,  実空間観察 ,  環状明視野走査型透過電子顕微鏡 ,  暗視野 ,  軽元素化合物 ,  低角散乱

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (21件)：

• 1)E. Okunishi, I. Ishikawa, H. Sawada, F. Hosokawa, M. Hori and Y. Kondo: Microsc. Microanal. 15 Suppl. 2, 164 (2009).
• 2)S. D. Findlay, N. Shibata, H. Sawada, E. Okunishi, Y. Kondo, T. Yamamoto and Y. Ikuhara: Appl. Phys. Lett. 95, 191913 (2009).
• 3)S. D. Findlay, N. Shibata, H. Sawada, E. Okunishi, Y. Kondo and Y. Ikuhara: Ultramicroscopy 110, 903 (2010).
• 4)柴田直哉, フィンドレイ スコット, 幾原雄一:顕微鏡, 46, 55 (2011).
• 5)C. L. Jia and K. Urban: Science 303, 2001 (2004).

タイトルに関連する用語 (5件)： 角 ,  散乱 ,  電子 ,  軽元素 ,  実空間観察