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J-GLOBAL ID:201402270752502462   整理番号:14A0682475

Dark CELIV法による有機半導体薄膜の縦方向移動度評価

Vertical mobility measurement in organic semiconductor thin films by using Dark CELIV method
著者 (3件):
資料名:
巻: 114  号: 12(ED2014 1-17)  ページ: 27-30  発行年: 2014年04月10日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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CELIV(Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage)法は,直線的に増加する逆バイアス電圧を素子に印加したときの,内部キャリア取り出しに由来する変位電流過渡応答から移動度を求める手法で,有機太陽電池素子の縦方向移動度評価方法として注目されている。しかし,光を使わないDark CELIV法では,内部キャリアの少ない有機半導体材料に適用することが難しい。そこで本研究では,順バイアスから電圧をスイープさせキャリアを注入し,内部キャリアを増加させることでCELIV過渡応答シグナルの観測を可能にするInjected CELIV法について有用性を検討する。(著者抄録)
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分類 (1件):
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太陽電池 
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