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J-GLOBAL ID：201402289839040867   整理番号：14A1387285

イオン液体技術を用いる集束イオンビーム/走査電子顕微鏡(FIB/SEM)による染色体内部の観察

Chromosome Interior Observation by Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy (FIB/SEM) Using Ionic Liquid Technique

著者 (10件)： HAMANO Tohru (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  DWIRANTI Astari (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KANEYOSHI Kohei (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  FUKUDA Shota (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KOMETANI Reo (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  NAKAO Masayuki (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  TAKATA Hideaki (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  UCHIYAMA Susumu (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OHMIDO Nobuko (Kobe Univ., Kobe, JPN) ,  FUKUI Kiichi (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： Microscopy and Microanalysis  (Microscopy and Microanalysis)
巻： 20  号： 5  ページ： 1340-1347  発行年： 2014年10月 
JST資料番号： W1587A  ISSN： 1431-9276  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (6件)： イオン液体 ,  集束イオンビーム ,  走査電子顕微鏡 ,  FIB ,  SEM ,  観察