特許
J-GLOBAL ID:201403000307258590

保護された読み出し電極アセンブリ及びアバランシェ粒子検出器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 勝沼 宏仁 ,  佐藤 泰和 ,  川崎 康 ,  関根 毅
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-122136
公開番号(公開出願番号):特開2013-242320
特許番号:特許第5638664号
出願日: 2013年06月10日
公開日(公表日): 2013年12月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】 アバランシェ粒子検出器用の読み出し電極アセンブリ(10)であって、 複数の読み出しパッド(12)と、 前記複数の読み出しパッド(12)上及び/または前記複数の読み出しパッド(12)間に形成される絶縁層(20)と、 前記複数の読み出しパッド(12)よりも上側で前記絶縁層(20)中に形成される複数のレジスタパッド(24)と、 を備え、 前記複数のレジスタパッド(24)は、前記絶縁層(20)の少なくとも一部によって前記複数の読み出しパッド(12)から空間的に分離される、 読み出し電極アセンブリ(10)。
IPC (1件):
G01T 1/18 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01T 1/18 B ,  G01T 1/18 D ,  G01T 1/18 C
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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