真贋認証対象物、真贋判定装置、真贋判定方法及び真贋認証対象物の製造方法

発明者： , , , , , ,
出願人/特許権者： , ,
代理人 (1件)：安彦元
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-038712
公開番号（公開出願番号）：特開2014-166695
出願日： 2013年02月28日
公開日（公表日）： 2014年09月11日
要約：

【課題】ホログラムやICチップ等、他の情報記録部内であってもこれらの機能に影響を及ぼすことなく、偽造不可能な認証構造体を設けることができるとともに、製造工程の簡易化と、製造コストの低下を実現することのできる真贋認証対象物を提供する。【解決手段】真贋認証用の認証構造体と、認証構造体とは異なる所定の情報が記録された情報記録部と、を備え、認証構造体は、基体6上に形成されたナノオーダーである柱状の、複数のピラーにより形成されるレジストパターン8をレジスト倒壊させて形成される、パターン間隔が10ナノメートルを下回るレジスト構造体5であり、認証構造体は、情報記録部の製造工程に含まれる工程を経て、情報記録部に組み込まれている。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

真贋認証用の認証構造体と、前記認証構造体とは異なる所定の情報が記録された情報記録部と、を備え、前記認証構造体は、基体上に形成されたナノオーダーである柱状の、複数のピラーにより形成されるレジストパターンをレジスト倒壊させて形成される、最小パターン間隔が10ナノメートルを下回るレジスト構造体であり、前記認証構造体は、前記情報記録部の製造工程に含まれる工程を経て、前記情報記録部に組み込まれている、ことを特徴とする真贋認証対象物。

IPC (5件)：

B42D 25/36 , B42D 25/42 , G07D 7/12 , G07D 7/20 , G07D 7/00

FI (5件)：

B42D15/10 360 , B42D15/10 420 , G07D7/12 , G07D7/20 , G07D7/00 D

Fターム (20件)：

2C005HA02 , 2C005HB01 , 2C005HB02 , 2C005HB03 , 2C005HB04 , 2C005HB10 , 2C005HB20 , 2C005JA02 , 2C005JB08 , 2C005JB40 , 2C005MA03 , 2C005MB01 , 2C005MB02 , 2C005MB07 , 2C005MB10 , 2C005NB01 , 3E041AA01 , 3E041BA11 , 3E041BB03 , 3E041BC01

前のページに戻る