特許
J-GLOBAL ID：201403035600000717

多重周回飛行時間型質量分析装置

発明者：
絹川 亨

絹川 亨 について

, 
古橋 治

古橋 治 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-141944
公開番号（公開出願番号）：特開2014-197555
出願日： 2014年07月10日
公開日（公表日）： 2014年10月16日
要約：
【課題】多重周回飛行時間型質量分析装置において、極力少ない測定回数で周回軌道上でのイオンの追越しの問題を解消した広質量範囲で高精度のマススペクトルを作成する。【解決手段】微小検出器が2次元的に配置された検出器8を用い、周回軌道から離脱したイオンが検出器8へ向かう射出軌道上に偏向電極71〜74を設ける。偏向電極71〜74にはゲート電極が開放される時点から時間的に変化する電圧を印加し、時間的に電場の強さを変化させる。周回軌道上での周回遅れのためにm/zが異なる2種のイオンが同時に検出器8に到達した場合、該2種のイオンが偏向電場を通過する時刻は異なるから受ける電場の強さは相違する。そのため、検出面上でのイオン到達位置には相違が生じ、到達位置の変位量から各イオンの偏向電場通過時刻が求まる。これより、各イオンの飛行速度が求まり、おおよその周回数が推定できるため、飛行時間からm/zを求めることができる。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
イオン源からパルス的に出射させたイオンを周回軌道部に導入して略同一軌道に沿って複数回周回させ、その後に該周回軌道部を離れたイオンを検出してその飛行時間からイオンの質量電荷比を求める多重周回飛行時間型質量分析装置において、 a)前記周回軌道部を離れたイオンが後記イオン検出手段に到達するまでの軌道上に配設された偏向電極と、 b)前記偏向電極に時間的に変動する電圧を印加する電圧発生手段と、 c)少なくとも前記偏向電極による電場の作用によりイオンが変位する方向においてイオンが到達した位置情報、及びイオンが到達した時間情報を提供するイオン検出手段と、 d)前記イオン検出手段に或るイオンが到達した時間情報と該イオンが到達した位置情報とに基づいて該イオンの周回軌道部上の周回数を推定し、その周回数の推定情報を用いて該イオンの質量電荷比を算出するデータ処理手段と、 を備えることを特徴とする多重周回飛行時間型質量分析装置。
IPC (2件)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/62
FI (2件)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 K
Fターム (3件)：
2G041CA01 ,  2G041GA06 ,  2G041GA13
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 特許第5585394号
  • 質量分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-357907   出願人：株式会社島津製作所
  • 飛行時間型質量分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-297305   出願人：株式会社島津製作所
審査官引用 (4件)
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