特許
J-GLOBAL ID：200903044518471972

飛行時間型質量分析装置

発明者：
上野 良弘

上野 良弘 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-297305
公開番号（公開出願番号）：特開2008-117546
出願日： 2006年11月01日
公開日（公表日）： 2008年05月22日
要約：
【課題】周回軌道を回る間に追いつき、追い越しによって混在した異なる質量のイオンを分離して検出できるようにする。【解決手段】周回軌道Pを離れたイオンを、一対の平板状の磁極7の間に形成される均一磁場B中を通過させ、ローレンツ力によりイオンを質量に応じてその進行方向と直交する方向に偏向させる。この偏向によって一次元的に広がったイオンを検出するようにアレイ状の検出器6を配置する。これにより、イオンは質量に応じてその進行方向に空間的に(検出器6に到達する時間的に)分離されるとともに、進行方向に直交する方向にも空間的に分離される。このようにして、周回軌道Pを周回する間に混在した異なる質量のイオンも確実に分離して検出できるから、高い質量分解能での分析を行うことができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
所定の周回軌道に沿ってイオンを1乃至複数回周回飛行させた後に該周回軌道からイオンを離脱させて検出する飛行時間型質量分析装置において、 a)前記周回軌道から離脱したイオンを、その質量に応じて進行方向と直交又は斜交する方向に分散させるための磁場又は電場を形成するイオン偏向手段と、 b)該イオン偏向手段により空間的に分散されたイオンを検出する検出手段と、 を備えることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/06 ,  H01J 49/30 ,  G01N 27/62
FI (3件)：
H01J49/06 ,  H01J49/30 ,  G01N27/62 K
Fターム (5件)：
2G041CA01 ,  2G041GA02 ,  2G041GA06 ,  5C038FF11 ,  5C038HH07
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (2件)
引用文献：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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