特許

J-GLOBAL ID：201403036104634265

高温加熱システム

発明者： ケラネン,ルーカス ポール ,  アシフ,サイド アマヌラ サイド ,  オー,ユンジェ ,  メジャー,ライアン
出願人/特許権者： ハイジトロン,インク.
代理人 (2件)： 大菅 義之 ,  大菅内外国特許事務所特許業務法人
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-543624
公開番号（公開出願番号）：特表2014-533840
出願日： 2012年11月28日
公開日（公表日）： 2014年12月15日
要約：

サンプル把持および加熱アセンブリは、アセンブリ筐体と、アセンブリ筐体に結合された第一および第二の加熱グリップと、を含む。第一および第二の加熱グリップは、把持表面を各々含み、第一および第二の加熱グリップの把持表面はお互いに反対側にある。第一および第二の加熱グリップの各々は、把持表面に隣接する加熱素子をさらに含む。任意で、サンプル把持および加熱アセンブリは、プローブの加熱用のプローブ加熱素子を有するプローブヒータを含む加熱システムに含まれる。加熱システムは、サンプル把持および加熱アセンブリと結合されたステージと、プローブヒータと結合された変換器アセンブリとを有する試験アセンブリに含まれる。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

ミクロン以下のスケールでの材料試験で使用するための試験アセンブリであって、 試験システムは、 サンプル材料とプローブを加熱するように構成された加熱システムを含み、 前記加熱システムは、 第一および第二の加熱グリップを有する把持および加熱アセンブリであって、前記第一および第二の加熱グリップの各々は、 把持表面と、 前記把持表面に隣接する加熱素子であって、前記複数の把持表面間に保持された前記サンプル材料を加熱するように構成された加熱素子と、 を含む、把持および加熱アセンブリと、 プローブ加熱素子を有するプローブヒータであって、前記複数の把持表面間に保持された前記サンプル材料の試験用に構成されたプローブと結合され、前記プローブを加熱するように構成されたプローブヒータと、 前記サンプル把持および加熱アセンブリと結合されたステージと、 前記プローブヒータと結合された変換器アセンブリと、 を含む、 加熱システムを含む、 ことを特徴とする試験アセンブリ。

IPC (2件)：

G01N 3/18 ,  G01N 3/08

FI (2件)：

G01N3/18 ,  G01N3/08

Fターム (6件)：

2G061AA01 ,  2G061AA02 ,  2G061AB01 ,  2G061AB02 ,  2G061AC03 ,  2G061DA19

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 走査形プローブ顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-305043   出願人：日本電子株式会社
• ミクロ電気機械ヒータ
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2012-541077   出願人：ハイジトロン,インク.
• 光学縞発生部材制御装置および方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-033496   出願人：キヤノン株式会社
• 球形粒子の硬さ測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-321954   出願人：日本アビオニクス株式会社