特許
J-GLOBAL ID：201403036447085534

欠陥検査装置、及び欠陥検査方法

発明者：
布施 正樹

布施 正樹 について


出願人/特許権者：
株式会社メック

株式会社メック について


代理人 (5件)： 志賀 正武 ,  高橋 詔男 ,  渡邊 隆 ,  鈴木 三義 ,  村山 靖彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-014374
公開番号（公開出願番号）：特開2014-145660
出願日： 2013年01月29日
公開日（公表日）： 2014年08月14日
要約：
【課題】糸条から立ち上がった繊維のみを欠陥として検出することができる欠陥検査装置、及び欠陥検査方法を提供する。【解決手段】欠陥検査装置は、検査対象から所定距離以上離れた所定範囲に、光を照射する照明部と、所定範囲が位置する方向から、検査対象を撮像する撮像部と、検査対象が撮像された画像における画素値に基づいて、検査対象から所定距離以上に立ち上がった部分を欠陥として検出する検出部と、を備える。検出部は、画素値としての明度に基づいて、立ち上がった部分を欠陥として検出してもよい。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
検査対象から所定距離以上に離れた所定範囲に、光を照射する照明部と、 前記所定範囲が位置する方向から、前記検査対象を撮像する撮像部と、 前記検査対象が撮像された画像における画素値に基づいて、前記検査対象から前記所定距離以上に立ち上がった部分を欠陥として検出する検出部と、 を備えることを特徴とする欠陥検査装置。
IPC (1件)：
G01N 21/892
FI (1件)：
G01N21/892 C
Fターム (17件)：
2G051AA44 ,  2G051AB02 ,  2G051AB20 ,  2G051AC11 ,  2G051BB17 ,  2G051CA03 ,  2G051CB01 ,  2G051CC09 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EA14 ,  2G051EA16 ,  2G051EA21 ,  2G051ED07 ,  2G051ED14 ,  2G051ED15 ,  2G051FA00
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (6件)
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