特許

J-GLOBAL ID：201403042102416465

温度センサおよび半導体装置

発明者： 合田 透 ,  河合 一慶
出願人/特許権者： ルネサスエレクトロニクス株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人深見特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-250228
公開番号（公開出願番号）：特開2014-098614
出願日： 2012年11月14日
公開日（公表日）： 2014年05月29日
要約：

【課題】広域な検知温度範囲に亘って高い検知精度を実現することができるオンチップ温度センサを提供する。【解決手段】半導体装置は、半導体装置の内部温度を検知し、検知温度に応じたレベルの電圧を出力する温度センサ10と、温度センサ10の出力電圧をデジタル値に変換するA/D変換器とを備える。温度センサ10は、検知温度に応じたレベルの電圧を出力する検知素子12と、基準電圧Vrefを生成する基準電圧発生部16と、検知素子12の出力電圧Vdiおよび基準電圧Vrefの差電圧を増幅する差動増幅部とを備える。基準電圧発生部16は、互いに電圧レベルの異なる複数の基準電圧を生成可能に構成され、複数の基準電圧のうちから選択された1つの基準電圧を出力する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

検知温度に応じたレベルの電圧を出力する検知素子と、 基準電圧を生成する基準電圧発生部と、 前記検知素子の出力電圧および前記基準電圧の差電圧を増幅する差動増幅部とを備え、 前記基準電圧発生部は、互いに電圧レベルの異なる複数の基準電圧を生成可能に構成され、前記複数の基準電圧のうちから選択された1つの基準電圧を出力する、温度センサ。

IPC (1件)：

G01K 7/01

FI (1件)：

G01K7/00 391C

Fターム (1件)：

2F056JT01

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 積算熱量計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-119686   出願人：大崎電気工業株式会社
• アナログ-ディジタル変換装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-118675   出願人：ジェコー株式会社
• A/D変換回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-002974   出願人：横河電機株式会社