特許
J-GLOBAL ID：201403052249222483
反射防止物品、画像表示装置及び反射防止物品の製造用金型
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
正林 真之
, 芝 哲央
, 林 一好
, 鎌田 久男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-069607
公開番号（公開出願番号）：特開2014-209230
出願日： 2014年03月28日
公開日（公表日）： 2014年11月06日
要約：
【課題】モスアイ構造に係る反射防止物品に関して、従来に比して耐擦傷性を向上し、さらには光学特性を向上する。【解決手段】微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下である反射防止物品において、微小突起が、頂点を複数有する多峰性微小突起と、頂点が1つの単峰性突起とであり、隣接する微小突起間距離の分布において、平均値、標準偏差及びサンプル総数がそれぞれP、σ、Ntであり、平均値から標準偏差だけ変位した範囲P±σ以内に属し、微小突起間距離に係る2つの微小突起の少なくとも1つが多峰性微小突起である場合のサンプル数がNs1であり、範囲P±σ以内に属していない、微小突起間距離に係る2つの微小突起の少なくとも1つが多峰性微小突起である場合のサンプル数がNs2である場合、比率Ns1/Ntが、比率Ns2/Ntより大きい。【選択図】図17
請求項（抜粋）：
微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起の間隔が、反射防止を図る電磁波の波長帯域の最短波長以下である反射防止物品において、
前記微小突起が、
頂点を複数有する多峰性微小突起と、頂点が1つの単峰性突起とであり、
隣接する微小突起間距離の分布において、
平均値、標準偏差及びサンプル総数がそれぞれP、σ、Ntであり、
前記平均値から前記標準偏差だけ変位した範囲P±σ以内に属し、前記微小突起間距離に係る2つの微小突起の少なくとも1つが前記多峰性微小突起である場合のサンプル数がNs1であり、
前記範囲P±σ以内に属していない、前記微小突起間距離に係る2つの微小突起の少なくとも1つが前記多峰性微小突起である場合のサンプル数がNs2である場合、
比率Ns1/Ntが、比率Ns2/Ntより大きい
反射防止物品。
IPC (3件)：
G02B 1/11
, B29C 33/42
, G02F 1/133
G02B1/10 A
, B29C33/42
, G02F1/1335
2H191FA40X
, 2H191FA40Z
, 2H191FB03
, 2H191FB04
, 2H191FC23
, 2H191FC33
, 2H191FC41
, 2H191LA02
, 2K009AA01
, 2K009CC24
, 2K009DD15
, 4F202AF01
, 4F202AG05
, 4F202AR12
, 4F202CA19
, 4F202CB01
, 4F202CB29
