特許

J-GLOBAL ID：201403062743959850

化粧料の断面観察方法

発明者： 吉川 徳信 ,  生田 香織
出願人/特許権者： 株式会社 資生堂
代理人 (2件)： 伊東 忠重 ,  伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-187645
公開番号（公開出願番号）：特開2013-253957
出願日： 2012年08月28日
公開日（公表日）： 2013年12月19日
要約：

【課題】本発明は走査型電子顕微鏡等を用いて化粧料の断面を観察する化粧料の断面観察方法に関し、所望する位置での断面観察を可能とした化粧料の断面観察方法を提供する。【解決手段】サンプルホルダに化粧料を配設して試料を作成する試料作成工程(S1)と、この試料を凍結させる凍結工程(S2)と、凍結された試料を集束イオンビームにより加工し試料に切断面を形成する切断工程(S3)と、走査型電子顕微鏡を用いて切断面の切断面画像を生成する切断面画像処理工程(4)とを有する。 また、切断工程(S3)と切断面画像処理工程(S4)を繰り返し実施することにより、切断位置の異なる複数の切断面画像を撮像し、この複数の切断面画像を画像処理することにより試料の三次元画像を生成する三次元画像処理工程を有する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

支持台に化粧料を配設して試料を作成する試料作成工程と、 該試料を凍結させる凍結工程と、 凍結された前記試料を集束イオンビームにより加工し、前記試料に切断面を形成する切断工程と、 走査型電子顕微鏡を用いて前記切断面の切断面画像を得る切断面画像処理工程と を有する化粧料の断面観察方法。

IPC (2件)：

G01N 23/225 ,  G01N 1/28

FI (5件)：

G01N23/225 ,  G01N1/28 F ,  G01N1/28 G ,  G01N1/28 K ,  G01N1/28 N

Fターム (18件)：

2G001AA03 ,  2G001BA05 ,  2G001BA07 ,  2G001CA03 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001LA01 ,  2G001MA03 ,  2G001RA04 ,  2G001RA08 ,  2G052EB08 ,  2G052EB13 ,  2G052EC14 ,  2G052EC18 ,  2G052FD06 ,  2G052GA35

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 化粧料の膜の断面観察用試料の調製方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-275345   出願人：ポーラ化成工業株式会社
• 複合荷電粒子線装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-108646   出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ

引用文献：

審査官引用 (5件)

• “Methodologies for the preparation of soft materials using CryoFIB SEM”
• “Methodologies for the preparation of soft materials using CryoFIB SEM”
• “14 Appendix I - Dual slusher option”
• “Methodologies for the preparation of soft materials using CryoFIB SEM”
• “14 Appendix I - Dual slusher option”