特許
J-GLOBAL ID：201403072795770360
情報処理装置及び情報処理方法及びプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
溝井 章司
, 山地 博人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-075746
公開番号（公開出願番号）：特開2014-203095
出願日： 2013年04月01日
公開日（公表日）： 2014年10月27日
要約：
【課題】効率的にテストの計画値を生成する。【解決手段】データベース108は、テストカテゴリごとに、テストで消化すべきテスト項目数の標準値と、テストで発見されると推測される欠陥数の標準値とが、所定の単位作業量当たりの値として示される標準テスト計画テーブルを記憶する。入力部101は、開発プロジェクトでの作業量が示されるプロジェクト情報を入力する。データ作成部106は、プロジェクト情報に示される作業量と標準テスト計画テーブルに示されるテスト項目数の標準値とを用いて、テストカテゴリごとに、開発プロジェクトのテストで消化すべきテスト項目の数を算出し、プロジェクト情報に示される作業量と標準テスト計画テーブルに示される欠陥数の標準値とを用いて、テストカテゴリごとに、開発プロジェクトのテストで発見されると推測される欠陥の数を算出する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
複数のテストカテゴリについて、テストカテゴリごとに、テストで消化すべきテスト項目数の標準値と、テストで発見されると推測される欠陥数の標準値とが、所定の単位作業量当たりの値として示される標準値情報を記憶する記憶部と、
テスト対象の開発プロジェクトでの作業量が示されるプロジェクト情報を入力する入力部と、
前記プロジェクト情報に示される作業量と前記標準値情報に示されるテストカテゴリごとのテスト項目数の標準値とを用いて、テストカテゴリごとに、前記開発プロジェクトのテストで消化すべきテスト項目の数をテスト項目数計画値として算出し、前記プロジェクト情報に示される作業量と前記標準値情報に示されるテストカテゴリごとの欠陥数の標準値とを用いて、テストカテゴリごとに、前記開発プロジェクトのテストで発見されると推測される欠陥の数を欠陥数計画値として算出する計画値算出部とを有することを特徴とする情報処理装置。
IPC (4件)：
G06F 9/44
, G06Q 10/06
, G06F 11/36
, G06F 11/28
G06F9/06 620J
, G06Q10/06 120
, G06F9/06 620P
, G06F11/28 340A
5B042HH19
, 5B376BA03
, 5B376BC61
