特許
J-GLOBAL ID:201403076227662109

高分子の長鎖分岐構造解析方法、高分子の評価方法、高分子の製造方法及び高分子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 海野 徹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-081705
公開番号(公開出願番号):特開2014-002129
出願日: 2013年04月10日
公開日(公表日): 2014年01月09日
要約:
【課題】 高速原子間力顕微鏡又は原子間力顕微鏡で取得した高分子鎖一本の画像に基づいて長鎖分岐構造を測定し、高分子材料の加工性等を明確化するための高分子の長鎖分岐構造解析方法及び高分子の評価方法を提供する。また、これら方法を用いた高分子の製造方法及び当該製造方法によって製造した高分子を提供する。【解決手段】 本発明の高分子の長鎖分岐構造解析方法は、長鎖分岐を持つ高分子鎖一本の画像をナンバリングルールによって解析し、構造パラメータを取得する。また、本発明の高分子の評価方法は、長鎖分岐を持つ高分子鎖一本の画像をナンバリングルールによって解析し、構造パラメータを取得し、当該構造パラメータを用いて高分子鎖一本の分子構造と物性との相関を明確化する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
長鎖分岐を持つ高分子鎖一本の画像をナンバリングルールによって解析し、構造パラメータを取得することを特徴とする高分子の長鎖分岐構造解析方法。
IPC (3件):
G01N 33/00 ,  G01Q 60/24 ,  G01Q 30/14
FI (3件):
G01N33/00 Z ,  G01Q60/24 ,  G01Q30/14
引用特許:
審査官引用 (6件)
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