特許
J-GLOBAL ID:201403079660901842
眼底解析装置、眼底解析プログラム及び眼底解析方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人三澤特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-168872
公開番号(公開出願番号):特開2014-023867
出願日: 2012年07月30日
公開日(公表日): 2014年02月06日
要約:
【課題】眼底の断層像に基づいてドルーゼンを効果的に検出することが可能な技術を提供する。【解決手段】実施形態の眼底解析装置は、記憶部と、層領域特定部と、近似曲線演算部と、突出領域特定部と、連結領域特定部と、形態情報生成部とを有する。記憶部は、眼底の層構造を描写する断層像を記憶する。層領域特定部は、断層像の画素の画素値に基づいて、網膜色素上皮層に相当する当該断層像中の層領域を特定する。近似曲線演算部は、層領域の形状に基づく近似曲線を求める。突出領域特定部は、近似曲線が層領域よりも眼底の奥行方向に位置し、かつ奥行方向における近似曲線と層領域との間の距離が所定閾値以上である突出領域を特定する。連結領域特定部は、突出領域を含み、かつ近似曲線及び層領域に囲まれた連結領域を特定する。形態情報生成部は、連結領域の形態を表す形態情報を生成する。【選択図】図4
請求項(抜粋):
眼底の層構造を描写する断層像を記憶する記憶部と、
前記断層像の画素の画素値に基づいて、網膜色素上皮層に相当する当該断層像中の層領域を特定する層領域特定部と、
前記層領域の形状に基づく近似曲線を求める近似曲線演算部と、
前記近似曲線が前記層領域よりも前記眼底の奥行方向に位置し、かつ前記奥行方向における前記近似曲線と前記層領域との間の距離が所定閾値以上である突出領域を特定する突出領域特定部と、
前記突出領域を含み、かつ前記近似曲線及び前記層領域に囲まれた連結領域を特定する連結領域特定部と、
前記連結領域の形態を表す形態情報を生成する形態情報生成部と
を有する眼底解析装置。
IPC (3件):
A61B 3/12
, A61B 3/10
, G01N 21/17
FI (3件):
A61B3/12 E
, A61B3/10 R
, G01N21/17 625
Fターム (18件):
2G059AA05
, 2G059BB12
, 2G059EE02
, 2G059FF02
, 2G059GG02
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
, 2G059LL01
, 2G059MM01
, 2G059MM10
, 2G059PP04
引用特許: