特許
J-GLOBAL ID：201403081180106753
超音波探傷方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
大中 実
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-201432
公開番号（公開出願番号）：特開2014-055880
出願日： 2012年09月13日
公開日（公表日）： 2014年03月27日
要約：
【課題】搬送中の被検査材に対するアレイ探触子から出力される探傷信号の2次元画像を用いた超音波探傷方法において、きずの検出精度が高い超音波探傷方法を提供する。【解決手段】所定の深さに振動子配列方向に沿った複数の位置に同寸法の人工きず41が設けられた対比試験片4を探傷して2次元画像を形成し、人工きず41に対応する画素の濃度を測定する。測定した画素の濃度を用いて補間演算をすることにより、前記所定の深さで振動子配列方向に沿った任意の位置に該人工きず41と同寸法のきずが存在すると仮定した場合のきず画素濃度分布を推定する。きず画素濃度分布を構成する各画素の濃度に乗算することにより該きず画素濃度分布を略均一な分布にする補正係数の分布を取得する。被検査材の探傷信号の2次元画像を形成する。被検査材の2次元画像の各画素の濃度に、各画素に対応する補正係数を乗算して、該各画素の濃度を補正する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
複数の振動子を一列に配列したアレイ探触子を用い、該振動子から出力される探傷信号に対して信号処理を施すことにより、被検査材の該アレイ探触子に対向する方向の断面についての探傷信号の2次元画像を形成し、該2次元画像を用いてきずを検出する超音波探傷方法であって、
前記アレイ探触子に対向する面から所定の深さにおける該アレイ探触子の振動子配列方向に沿った複数の位置に同寸法の人工きずが設けられた対比試験片を、該アレイ探触子によって所定の設定条件で探傷して、該人工きずが設けられた断面についての探傷信号の2次元画像を形成し、該2次元画像における該各人工きずに対応する画素の濃度を測定する人工きず測定ステップと、
前記人工きず測定ステップによって測定した前記各人工きずに対応する画素の濃度を用いて補間演算をすることにより、前記所定の深さにおける前記アレイ探触子の振動子配列方向に沿った任意の位置に該人工きずと同寸法のきずが存在すると仮定した場合の当該きずに対応する画素の濃度の該アレイ探触子の振動子配列方向の分布であるきず画素濃度分布を推定するきず画素濃度分布推定ステップと、
前記きず画素濃度推定ステップにより推定された前記きず画素濃度分布を構成する各画素の濃度に乗算することにより該きず画素濃度分布を略均一な分布にする補正係数を該きず画素濃度分布を構成する各画素毎に算出し、該算出した補正係数の該アレイ探触子の振動子配列方向の分布である補正係数分布を取得する補正係数分布取得ステップと、
前記アレイ探触子をその振動子配列方向が被検査材の搬送方向に垂直になるように設置し、該被検査材を搬送しながら該アレイ探触子によって前記所定の設定条件で探傷して、該アレイ探触子に対向する方向の断面についての探傷信号の2次元画像を形成する探傷ステップと、
前記探傷ステップによって形成した2次元画像を構成する各画素の濃度に、前記補正係数分布取得ステップで取得した前記補正係数分布のうち該各画素の前記アレイ探触子の振動子配列方向の位置に対応する前記補正係数を乗算して、該各画素の濃度を補正する補正ステップと、
前記補正ステップによって各画素の濃度を補正された前記2次元画像を用いてきずを検出するきず検出ステップとを含むことを特徴とする超音波探傷方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
2G047BA03
, 2G047CA01
, 2G047DB02
, 2G047GB02
, 2G047GB17
, 2G047GG06
, 2G047GG28
, 2G047GG35
