特許
J-GLOBAL ID：201403090267019570

単体試験支援装置及び単体試験支援プログラム

発明者：
奥田 勝己

奥田 勝己 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (4件)： 田澤 英昭 ,  濱田 初音 ,  久米 輝代 ,  河村 秀央
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-081223
公開番号（公開出願番号）：特開2014-203384
出願日： 2013年04月09日
公開日（公表日）： 2014年10月27日
要約：
【課題】ソフトウェアの単体試験における作業を簡略化することのできる単体試験支援装置を得る。【解決手段】関数置換部121は、試験対象プログラム110中で書き換えられる被置換関数112の識別子と、被置換関数112を書き換えるための置換関数102の識別子を入力する。アドレス解決部122は、被置換関数112の識別子から試験対象プログラム110の書換え位置のアドレスを取得する。プログラム書換え部123は、アドレス解決部122が取得したアドレスの試験対象プログラム110を書き換えることで被置換関数112を置換関数102で書き換える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試験対象プログラム中で書き換えられる被置換関数の識別子と、前記被置換関数を書き換えるための置換関数の識別子を入力する関数置換部と、 前記被置換関数の識別子から前記試験対象プログラムの書換え位置のアドレスを取得するアドレス解決部と、 前記アドレス解決部が取得したアドレスの前記試験対象プログラムを書き換えることで前記被置換関数を前記置換関数で書き換えるプログラム書換え部とを備えた単体試験支援装置。
IPC (1件)：
G06F 11/28
FI (1件)：
G06F11/28 340A
Fターム (3件)：
5B042GA05 ,  5B042HH13 ,  5B042HH31
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM