特許
J-GLOBAL ID：201403097745051790

対象物表面の3D座標を決定するための測定システム

発明者：
ベアンハート メツラー

ベアンハート メツラー について

, 
クヌート ズィアクス

クヌート ズィアクス について


出願人/特許権者：
ヘキサゴン テクノロジー センター ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング

ヘキサゴン テクノロジー センター ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング について


代理人 (2件)： アインゼル・フェリックス=ラインハルト ,  久野 琢也
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-504337
公開番号（公開出願番号）：特表2014-513792
出願日： 2012年04月13日
公開日（公表日）： 2014年06月05日
要約：
対象物表面、特に工業製品の測定点の多数の3D座標を外部対象物座標系において決定する本発明による測定システム(10)は、対象物表面(65)の測定点を点毎に光学的に測定し、内部走査座標系において内部測定点座標を決定する、三角測量の原理を基礎とする光学的な走査装置(21)を有する。更に、参照付け装置(30)及び評価ユニット(34)が設けられており、参照付け装置(30)は外部座標系において内部測定点座標を参照付けるための参照付け情報を形成し、評価ユニット(34)は内部測定点座標及び参照付け情報に依存して、外部座標系において測定点の3D座標を決定し、それにより、内部測定点座標は外部対象物座標系における3D座標として、特に点群として存在する。走査装置(21)が設けられている無人制御可能なオートモービル・エアークラフト(20)は、ホバリング状態で配向可能且つ移動可能であるように構成されている。
請求項（抜粋）：
対象物表面(65)、特に工業製品の測定点の3D座標、特に多数の3D座標を外部対象物座標系において決定するための測定システム(10)であって、 三角測量の原理を基礎とする光学的な走査装置(21,21a,21b,21c)と、参照付け装置(30,30a,30b,70a,70b)と、評価ユニット(34)とを備えており、 前記光学的な走査装置(21,21a,21b,21c)は、前記対象物表面(65)の前記測定点を光学的に測定し、特に点毎に光学的に測定し、且つ、内部走査座標系において内部測定点座標を決定し、 前記参照付け装置(30,30a,30b,70a,70b)は、前記外部対象物座標系において前記内部測定点座標を参照付けるための参照付け情報を形成し、 前記評価ユニット(34)は、前記内部測定点座標及び前記参照付け情報に依存して、前記外部対象物座標系において前記測定点の3D座標を決定し、それにより、前記内部測定点座標は前記外部対象物座標系における3D座標として、特に点群として存在する、測定システム(10)において、 前記走査装置(21,21a,21b,21c)を搭載している、無人制御可能なオートモービル・エアークラフト(20)が設けられており、特に該エアークラフト(20)は、ホバリング状態で配向可能且つ移動可能であるように構成されており、 制御ユニット(40)が設けられており、該制御ユニット(40)は、 前記走査装置(21,21a,21b,21c)を用いて決定されたその都度最新の内部測定点座標を考慮して、及び/又は、 ディジタルモデルによって事前に規定されている、前記ディジタルモデルによって規定された飛行ルート(81,82)に沿った対象物表面を考慮して、 事前に規定された測定距離範囲、特に測定距離を維持しながら、前記エアークラフト(20)を前記対象物表面(65)に相対的に自動制御で移動させるように構成されている、 ことを特徴とする、測定システム(10)。
IPC (1件)：
G01B 11/25
FI (1件)：
G01B11/25 H
Fターム (18件)：
2F065AA04 ,  2F065AA09 ,  2F065AA37 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB29 ,  2F065CC11 ,  2F065DD03 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065HH06 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26
引用特許：
出願人引用 (4件)
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