特許
J-GLOBAL ID：201403098184003215
磁束の変調及び角度感知技術を用いた位置の測定法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
小野 新次郎
, 小林 泰
, 竹内 茂雄
, 山本 修
, 佐久間 滋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-189440
公開番号（公開出願番号）：特開2014-055953
出願日： 2013年09月12日
公開日（公表日）： 2014年03月27日
要約：
【課題】可動の構成要素の位置を測るシステム及び方法を提供する。【解決手段】システム101は、変化する磁束の制御可能な発生源102を含む。磁束は、第1の磁束集中器115a及び第2の磁束集中器115bを用いてセンサ120を通して導かれる。センサは、センサ信号を発生させ、このセンサ信号は、信号を復調する設計とされた電気回路127に提供される。磁束成分を表す復調信号145はコントローラ112に提供される。コントローラは、信号を変換し、且つ第1の磁束集中器に対する第2の磁束集中器の位置を計算する。コントローラは、第2の磁束集中器の計算した位置に基づいて所定の動作を行う。【選択図】図1A
請求項（抜粋）：
可動の構成要素の位置を測るシステムにおいて、
変化する磁束の制御可能な発生源と、
磁気回路と、
可動の構成要素と、
センサ信号を出力する設計とされるとともに、変化する磁束が磁気センサを通るように磁気回路内に配置された磁気センサであって、該磁気センサを通る磁束の角度が、可動の構成要素の位置が変化したとき、変化するようにした前記磁気センサと、
センサ信号の周波成分が選択的にろ過されるようにセンサ信号を処理する設計とされたプロセッサとを備える、可動の構成要素の位置を測るシステム。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01R33/02 L
, G01R33/02 V
2G017AA03
, 2G017AC06
, 2G017AC07
, 2G017AC09
, 2G017AD52
, 2G017AD54
