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J-GLOBAL ID：201502209240253662   整理番号：15A1061939

テラヘルツ周波数領域における走査型トンネル顕微鏡のチップ-試料間ギャップの電磁気的性質

Electromagnetic properties of scanning tunneling microscope tip-sample gap in the terahertz frequency range

著者 (4件)： UEHARA Yoichi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  KATANO Satoshi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  KUWAHARA Masashi (AIST, Ibaraki, JPN) ,  SUZUKI Tetsu (Sendai National Coll. of Technol., Sendai, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 54  号： 8S2  ページ： 08LB06.1-08LB06.3  発行年： 2015年08月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： テラヘルツ(THz)スペクトル領域における走査型トンネル顕微鏡(STM)のチップ-試料間ギャップの電磁気的性質を調べた。STM内の光は,双極子放射過程を通じてトンネル電子により励起された電流源から放射される。双極子放射の効率を測るアンテナ因子は,STM光の角周波数ωの二乗に比例する因子を含んでいる。したがって,THzスペクトル領域におけるSTM光放射は検出できないくらいに弱くなる。プラズマ周波数が,それぞれ,UVとTHzにあるAuとTiO₂の試料に対するアンテナ因子を,Wチップの曲率半径aの関数として調べた。約1500nmのaを持つチップを用いることによって,アンテナ因子中のω²の影響を補償できることを見いだした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： テラヘルツ波 ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  *間隙 ,  *性質 ,  双極放射 ,  電流 ,  周波数
準シソーラス用語： *ギャップ ,  *電磁気的性質 ,  双極子放射 ,  トンネル電流 ,  プラズマ周波数

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (16件)：

• J. K. Gimzewski, Proc. SPIE 1009, 274 (1988).
• X. Qiu, G. Nazin, and W. Ho, Science 299, 542 (2003).
• T. Tsuruoka, R. Tanimoto, Y. Ohizumi, R. Arafune, and S. Ushioda, Appl. Phys. Lett. 80, 3748 (2002).
• S. Katano, S. Ushioda, and Y. Uehara, J. Phys. Chem. Lett. 1, 2763 (2010).
• P. Johansson, R. Monreal, and P. Apell, Phys. Rev. B 42, 9210 (1990).

タイトルに関連する用語 (6件)： テラヘルツ ,  周波数領域 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  試料 ,  ギャップ ,  電磁気的性質