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J-GLOBAL ID：201502213434933033   整理番号：15A1356641

ナノフォトニックセキュリティのための非走査型光学近接場顕微鏡法

Non-scanning optical near-field microscopy for nanophotonic security

著者 (8件)： TATE Naoya (Kyushu Univ., Fac. of Information Sci. and Electrical Engineering, 744 Motooka, Nishi-ku, 819-0395, Fukuoka, JPN) ,  NARUSE Makoto (National Inst. of Information and Communications Technol., Photonic Network Res. Inst., 4-2-1 Nukui-kita, 184-8795 ...) ,  MATSUMOTO Tsutomu (Yokohama National Univ., Graduate School of Environment and Information Sciences, Hodogaya, 240-8501, Yokohama ...) ,  HOGA Morihisa (Dai Nippon Printing Co. Ltd., 250-1 Wakashiba, 277-0871, Kashiwa, Chiba, JPN) ,  OHYAGI Yasuyuki (Dai Nippon Printing Co. Ltd., 250-1 Wakashiba, 277-0871, Kashiwa, Chiba, JPN) ,  NISHIO Shumpei (Dai Nippon Printing Co. Ltd., 250-1 Wakashiba, 277-0871, Kashiwa, Chiba, JPN) ,  NOMURA Wataru (Kyushu Univ., Fac. of Information Sci. and Electrical Engineering, 744 Motooka, Nishi-ku, 819-0395, Fukuoka, JPN) ,  OHTSU Motoichi (The Univ. of Tokyo, Dep. of Electrical Engineering and Information Systems, 2-11-16 Yayoi, Bunkyo-ku, 113-8656 ...)
資料名： Applied Physics. A. Materials Science & Processing  (Applied Physics. A. Materials Science & Processing)
巻： 121  号： 4  ページ： 1383-1387  発行年： 2015年12月 
JST資料番号： D0256C  ISSN： 0947-8396  CODEN： APHYCC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近接場光学顕微鏡におけるプローブとターゲットの間の光近接場相互作用によってナノメートルで揺らいでいる信号を観察し,利用する新しい方法を提案した。相互作用の階層構造に基づいて,走査プロセスを全く必要とせずに,二次元空間パターンを表す信号を得ることができる。このような信号は各ターゲットの個々の特徴を明らかにし,これらの特徴は,適切に抽出し,定義した場合には,セキュリティ用途,ナノフォトニックセキュリティと呼んでいる方法,に利用できる。実験的な実証として,SiO₂プローブとAlナノロッドの間の相互作用による出力信号を単一読出し点で近接場光学顕微鏡法を使って観測し,特徴を抽出し,定義するために開発した,セキュリティ用に利用できるアルゴリズムを使ってこれらの信号を定量的に評価した。Copyright 2015 Springer-Verlag Berlin Heidelberg Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *近接場 ,  *セキュリティ ,  *工学 ,  二酸化ケイ素 ,  アルミニウム ,  *相互作用 ,  *階層構造 ,  *光学顕微鏡法 ,  二次元 ,  ゆらぎ ,  画像符号化 ,  アルゴリズム ,  ナノ構造
準シソーラス用語： *ナノフォトニクス

分類 (2件)： 光学情報処理  (BD03060T) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査型 ,  光学 ,  近接場 ,  顕微鏡法