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J-GLOBAL ID：201502224756570760   整理番号：15A0533114

固体/液体界面での形状,電気,分子構造のその場実時間モニタ

In situ real-time monitoring of geometric, electronic, and molecular structures at solid/liquid interfaces

著者 (2件)： UOSAKI Kohei (National Inst. Materials Sci. (NIMS), Ibaraki, JPN) ,  UOSAKI Kohei (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 54  号： 3  ページ： 030102.1-030102.14  発行年： 2015年03月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 固体/液体界面で,多くの重要なプロセスが生じる。これらのプロセスを理解するには,原子,分子レベルでの固体/液体界面における形状,電気,分子構造のその場実時間評価が本質的となる。しかし,真空中で表面構想を分析するための強力な道具である電子顕微鏡と低エネルギー回折などの技術が,液体の存在のために固体/液体界面では使用できない。このレビューでは,走査プローブ顕微鏡,シンクロトロン放射X-線技術,非線形分光学を含む固体/液体界面に適応可能な種々の技術を簡単に述べる。固体/液体界面でのプロセスを理解するための多数の技術を総合した方法の重要性を示すために,例として金単結晶の電極表面上におけるPd層の電極堆積の特性を示す。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *固液界面 ,  形態 ,  分子構造 ,  *その場観察 ,  時間依存性 ,  監視装置 ,  電子顕微鏡 ,  低速電子回折 ,  *走査型プローブ顕微鏡 ,  *X線回折 ,  *スペクトロスコピー ,  金電極 ,  単結晶 ,  *パラジウム ,  *金属薄膜 ,  *非線形分光法 ,  放射光X線回折
準シソーラス用語： 低エネルギー電子回折 ,  走査プローブ顕微鏡 ,  シンクロトロン放射光X線回折

分類 (1件)： 固-液界面  (CB12050B)

引用文献 (41件)：

• G. Jerkiewicz, M. P. Soriaga, K. Uosaki, and A. Wieckowski, Solid-Liquid Electrochemical Interfaces (ACS, Washington, D.C., 1997) ACS Symposium Series, Vol. 656.
• Scanning Tunneling Microscopy, ed. H. Neddermeyer (Springer, Heidelberg, 1993) Perspectives in Condensed Matter Physics, Vol. 6.
• R. Yamada and K. Uosaki, in Applied Scanning Probe Methods VI, ed. B. Bhushan and S. Kawata (Springer, Heidelberg, 2006) Vol. 13, p. 65.
• H. Naohara, S. Ye, and K. Uosaki, J. Phys. Chem. B 102, 4366 (1998).
• S. Takakusagi, K. Kitamura, and K. Uosaki, J. Phys. Chem. C 112, 3073 (2008).

タイトルに関連する用語 (5件)： 固体 ,  界面 ,  分子構造 ,  実時間 ,  モニタ