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J-GLOBAL ID：201502246957694975   整理番号：15A0263636

低温走査型トンネル顕微鏡像におけるSi(100)-2×1-H二量体列対比逆転

Si(100)-2×1-H dimer rows contrast inversion in low-temperature scanning tunneling microscope images

著者 (13件)： YAP T.L. (Inst. Materials Res. and Engineering(IMRE), Agency for Sci., Technol. and Res.(A*STAR), Singapore, SGP) ,  YAP T.L. (National Univ. Singapore, Singapore, SGP) ,  YAP T.L. (GLOBALFOUNDRIES Singapore Pte Ltd, Singapore, SGP) ,  KAWAI H. (Inst. Materials Res. and Engineering(IMRE), Agency for Sci., Technol. and Res.(A*STAR), Singapore, SGP) ,  NEUCHEVA O.A. (Inst. Materials Res. and Engineering(IMRE), Agency for Sci., Technol. and Res.(A*STAR), Singapore, SGP) ,  WEE A.T.S. (Inst. Materials Res. and Engineering(IMRE), Agency for Sci., Technol. and Res.(A*STAR), Singapore, SGP) ,  WEE A.T.S. (National Univ. Singapore, Singapore, SGP) ,  TROADEC C. (Inst. Materials Res. and Engineering(IMRE), Agency for Sci., Technol. and Res.(A*STAR), Singapore, SGP) ,  SAEYS M. (Inst. Materials Res. and Engineering(IMRE), Agency for Sci., Technol. and Res.(A*STAR), Singapore, SGP) ,  SAEYS M. (Ghent Univ., Ghent, BEL) ,  JOACHIM C. (Inst. Materials Res. and Engineering(IMRE), Agency for Sci., Technol. and Res.(A*STAR), Singapore, SGP) ,  JOACHIM C. (CEMES-CNRS, Toulouse, FRA) ,  JOACHIM C. (National Inst. Materials Sci.(NIMS), Ibaraki, JPN)
資料名： Surface Science  (Surface Science)
巻： 632  ページ： L13-L17  発行年： 2015年02月 
JST資料番号： C0129B  ISSN： 0039-6028  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 輸送現象 ,  *二量体 ,  *ケイ素 ,  *表面 ,  *表面構造 ,  コントラスト ,  逆転 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  顕微鏡観察 ,  単結晶
準シソーラス用語： 量子輸送

分類 (3件)： 界面化学一般  (CB12010J) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  電子輸送の一般理論  (BM03020C)

タイトルに関連する用語 (6件)： 低温 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  Si ,  二量体 ,  対比 ,  逆転