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J-GLOBAL ID：201502255578540218   整理番号：15A0638803

2探針近接場分光技術の開発

Development of Dual-Probe Scanning Near-Field Optical Microscopy

著者 (3件)： 川上養一 (京大 大学院工学研究科) ,  金田昭男 (京大 大学院工学研究科) ,  船戸充 (京大 大学院工学研究科)
資料名： レーザー研究  (レーザー学会誌)
巻： 43  号： 5  ページ： 286-291  発行年： 2015年05月20日 
JST資料番号： X0335A  ISSN： 0387-0200  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 光学顕微鏡での空間分解能の回折限界への挑戦は重要な課題である。その中で,近接場光学の利用が大きな注目を集めている。著者らは,SNOMを用いて,InGaN系半導体の発光機構の解明に取り組んできた。本報告では,2本のプローブによるDSNOMの開発と測定例を紹介した。DSNOM装置の開発を述べ,InGaNナノ構造におけるPLマッピングの応用を説明した。キャリアは,輻射および非輻射の再結合中心の分布だけでなく,局所的にポテンシャルの低い領域に拡散しながら再結合することが明らかとなった。また,表面プラズモンポラリトン伝搬の可視化にも応用した。DSNOMは,半導体ナノ構造やプラズモニクス,ナノ構造の評価や生体細胞のシグナル伝達などの解明に利用できる。

シソーラス用語： *近接場 ,  *スペクトロスコピー ,  プローブ ,  技術開発 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  走査光学顕微鏡 ,  *光学顕微鏡法 ,  光学顕微鏡 ,  空間分解能 ,  限界 ,  光学 ,  インジウム化合物 ,  ガリウム化合物 ,  窒化物 ,  ナノ構造 ,  光ルミネセンス ,  キャリア拡散 ,  拡散距離 ,  再結合中心 ,  ポラリトン ,  可視化 ,  技術 ,  細胞 ,  細胞情報伝達
準シソーラス用語： InGaN ,  SNOM【顕微鏡】 ,  *SNOM【顕微鏡法】 ,  プラズモニクス ,  回折限界 ,  近接場光学 ,  生体細胞 ,  表面プラズモンポラリトン

分類 (2件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  分光法と分光計一般  (BD07041Q)

引用文献 (11件)：

• E. H. Synge: Phil. Mag. 6 (1928) 356.
• M. Ohtsu: J. Lightwave Tech. 13 (1995) 1200.
• T. Saiki, K. Nishi, and M. Ohtsu: Jpn. J. Appl. Phys. 37 (1998) 1638.
• A. Kaneta, T. Izumi, K. Okamoto, Y. Kawakami, Sg. Fujita, Y. Narita, T. Inoue, and T. Mukai: Jpn. J. Appl. Phys. 40 (2001) 110.
• A. Kaneta, K. Okamoto, Y. Kawakami, G. Marutsuki, Y. Narukawa, T. Mukai, and Sg. Fujita: Appl. Phys. Lett. 81 (2002) 4353.

タイトルに関連する用語 (4件)： 探針 ,  近接場 ,  分光 ,  開発