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J-GLOBAL ID：200902154133312314   整理番号：01A0486637

照射収集モード下の近視野光学顕微鏡により精査されたInGaNベース発光ダイオード構造における光ルミネセンスの空間不均質性

Spatial Inhomogeneity of Photoluminescence in an InGaN-Based Light-Emitting Diode Structure Probed by Near-Field optical Microscopy Under Illumination-Collection Mode.

著者 (8件)： KANETA A (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  IZUMI T (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  OKAMOTO K (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KAWAKAMI Y (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  FUJITA S (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  NARITA Y (JASCO Corp., Tokyo, JPN) ,  INOUE T (JASCO Corp., Tokyo, JPN) ,  MUKAI T (Nichia Chemical Ind. Ltd., Tokushima, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 40  号： 1  ページ： 110-111  発行年： 2001年01月15日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 照射収集モード下の近視野光学顕微鏡によりInGaN単一量子井...

シソーラス用語： *光ルミネセンス ,...
準シソーラス用語： 近視野光学顕微鏡

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分類 (2件)： 半導体のルミネセンス  (BM08092S) ,  発光素子  (NC03082G)

引用文献 (15件)：

• 1) S. Nakamura, M. Senoh, N. Iwasa and S. Nagahama: Jpn. J. Appl. Phys. 34 (1995) L797.
• 2) S. Nakamura, M. Senoh, N. Iwasa, S. Nagahama, T. Yamada and T. Mukai: Jpn. J. Appl. Phys. 34 (1995) L1332.
• 3) T. Mukai, H. Narimatsu and S. Nakamura: Jpn. J. Appl. Phys. 37 (1998) L479.
• 4) T. Mukai, D. Morita and S. Nakamura: J. Cryst. Growth 189/190 (1998) 788.
• 5) Y. Narukawa, S. Saijou, Y. Kawakami, S. Fujita, T. Mukai and S. Nakamura: Appl. Phys. Lett. 74 (1999) 558.

タイトルに関連する用語 (7件)： 収集 ,  近視野 ,  光学顕微鏡 ,  InGaN ,  発光ダイオード ,  光ルミネセンス ,  不均質性