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J-GLOBAL ID:201502262491651575   整理番号:15A0434661

マグネシウムの傾斜角イオン注入を使ったGaN MISFETの閾値電圧制御

THRESHOLD VOLTAGE CONTROL OF GaN MISFETs USING TILT ANGLE ION IMPLANTATION OF MAGNESIUM
著者 (5件):
資料名:
号: 33  ページ: 91-96  発行年: 2015年03月 
JST資料番号: L0263A  ISSN: 0914-2908  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,GaN MISFETの閾値電圧制御に対する傾斜Mgイオン注入の影響を初めて実証した。Mg注入を行うと,MISFETの閾値電圧は最高1.5Vシフトし,Mgを行わない場合,-5Vであった。このGaN MISFETは165mA/mmの最高ドレイン電流と30mS/mmの外因性相互コンダクタンスを達成した。これら結果は,電力スイッチング素子への応用にノーマリーオフ型GaN MISFETに著者らのプロセスが明らかに利用できることを示す。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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トランジスタ 

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