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J-GLOBAL ID：201502274392238818   整理番号：15A0513563

WHTOL試験のもとでのLEDにおけるリードフレーム電極間での反射器の黒変に関する故障解析

Failure analysis on reflector blackening between lead frame electrodes in LEDs under WHTOL test

著者 (6件)： ZHANG Lei (Dep. of Mechanical and Aerospace Engineering, The Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Kowloon, Hong Kong) ,  ZHU Yejun (Dep. of Mechanical and Aerospace Engineering, The Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Kowloon, Hong Kong) ,  CHEN Haibin (Dep. of Mechanical and Aerospace Engineering, The Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Kowloon, Hong Kong) ,  LEUNG Karina (Lightning Optoelectronic Technol. (SZ) Co., Ltd., Shenzhen, CHN) ,  WU Yeqing (Lightning Optoelectronic Technol. (SZ) Co., Ltd., Shenzhen, CHN) ,  WU Jingshen (Dep. of Mechanical and Aerospace Engineering, The Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Kowloon, Hong Kong)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 55  号： 5  ページ： 799-806  発行年： 2015年04月 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,WHTOL信頼性試験後のQFN LEDにおける黒変誘起ルーメン低下について報告し,解析した。新しいLED黒変故障機構を固体実験結果に基づいて提案した。故障プロセスはリードフレームと反射器ポリマー複合材料との間の剥離を蒙り,それに続いて化学的浸透,複合腐食,銀マイグレーションおよび最終的に生ずる黒変故障が起こると結論した。剥離と腐蝕性デフラッシュ物質は故障モードに対して重要な要素であった。さらに,シミュレーションにより,光学性能への故障の影響を予測した。他の報告された要素は別として,本調査は複合腐食とAgマイグレーションが重大な照明低減も生じ得ることを強調した。この調査の結果は,将来においてLED製造と品質管理に対して有益である。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *故障解析 ,  *反射器 ,  *変色 ,  *剥離 ,  *エレクトロマイグレーション ,  *発光ダイオード ,  信頼性 ,  *腐食 ,  リードフレーム ,  QFP【パッケージ】 ,  *信頼性試験 ,  光束 ,  高分子複合体 ,  *故障モード ,  シミュレーション ,  品質管理 ,  超音波顕微鏡
準シソーラス用語： 黒変 ,  光学シミュレーション ,  走査音響顕微鏡

分類 (2件)： 発光素子  (NC03082G) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 試験 ,  LED ,  リードフレーム ,  反射器 ,  黒変 ,  故障解析