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J-GLOBAL ID:201502288651014398   整理番号:15A0531685

GaAsナノワイヤFETおよびカーボンナノチューブ素子の電流雑音特性

Current Noise Characteristics in GaAs-based Nanowire FETs and Carbon Nanotube Devices
著者 (4件):
資料名:
巻: 114  号: 442(ED2014 138-152)  ページ: 57-61  発行年: 2015年01月29日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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単一分子の電荷ダイナミクス検出を目指し,単一分子を表面に分散させたGaAsナノワイヤFETおよびカーボンナノチューブ(CNT)ネットワークの電流雑音について評価検討した結果について報告する。ショットキーゲートGaAsナノワイヤFETは一般的に1/f雑音を示すが,テトラフェニルポルフィリン分子(TPP)を表面に分散しその吸収帯波長近辺の光照射条件において1/f2スペクトルをもつローレンツ型雑音が重畳した。1/f2スペクトル雑音はCNTネットワーク表面に燐モリブデン酸分子(PMo12)を分散させた場合にも観測された。ローレンツ型雑音は離散事象の反映であり,単一分子の離散電荷状態を反映したものと考えられる。(著者抄録)
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