特許
J-GLOBAL ID：201503000018671208
ガラス固化体の元素濃度分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
森川 聡
, 小山 卓志
, 田中 貞嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-029623
公開番号（公開出願番号）：特開2015-152566
出願日： 2014年02月19日
公開日（公表日）： 2015年08月24日
要約：
【課題】簡単、迅速、正確なガラス固化体の元素濃度を測定するレーザアブレーション法誘導結合プラズマ発光分光分析法を提供する。【解決手段】光源としてYAGレーザが光源として用い、標準ガラス試料検量線が作成される工程、上記検量線が使用され、分析対象のガラス固化体の元素濃度が分析される工程を含む。更にYAGレーザは試料スキャン速度が100μm/s以上、パルス繰返し数が20Hz以上、レーザパルスエネルギー強度が5J/cm2以上で照射され、発生するエアロゾルがバッファ容器で一時蓄積され、平均化されて分析対象のガラス固化体中に偏在する白金族元素及び/又は異物の平均濃度が定量される工程を含む。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
YAGレーザ第5高調波光が光源として用いられるレーザアブレーション法誘導結合プラズマ発光分光分析法によりガラス固化体の元素濃度が分析される方法であって、
検量線作成用標準ガラス試料が、分析対象のガラス固化体の化学組成に類似させられて作製され検量線が作成される工程、
上記検量線が使用され、分析対象のガラス固化体の元素濃度が分析される工程、を含むガラス固化体の元素濃度分析方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (12件)：
2G043AA01
, 2G043BA01
, 2G043CA05
, 2G043EA08
, 2G043FA07
, 2G043GA03
, 2G043GB21
, 2G043JA01
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043NA11
