特許
J-GLOBAL ID：201503000189306974

流通分析装置および流通分析方法

発明者：
小林 修

小林 修 について

, 
高杉 憲司

高杉 憲司 について


出願人/特許権者：
国立大学法人 東京大学

国立大学法人 東京大学 について

, 
日本電子株式会社

日本電子株式会社 について


代理人 (2件)： 布施 行夫 ,  大渕 美千栄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-108869
公開番号（公開出願番号）：特開2015-224914
出願日： 2014年05月27日
公開日（公表日）： 2015年12月14日
要約：
【課題】容易に流通容器内における状態の評価を行うことができる流通分析装置および流通分析方法を提供する。【解決手段】流通分析装置100は、流通容器30と、流通容器30に導入流体を導入する流体導入部10a,10b,10cと、流体導入部10a,10b,10cから流通容器30に導入される導入流体の流速または流圧を周期的に変化させる制御を行う流体制御部20と、流通容器30から排出される排出流体の成分を分析する排出流体分析部40と、導入流体の制御情報および排出流体の分析結果から得られる排出流体の成分比と時間との関係を表す排出プロファイルを周波数解析する周波数解析部50と、を含む。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
流通容器と、 前記流通容器に導入流体を導入する流体導入部と、 前記流体導入部から前記流通容器に導入される前記導入流体の流速または流圧を周期的に変化させる制御を行う流体制御部と、 前記流通容器から排出される排出流体の成分を分析する排出流体分析部と、 前記導入流体の制御情報および前記排出流体の分析結果から得られる前記排出流体の成分比と時間との関係を表す排出プロファイルを周波数解析する周波数解析部と、 を含む、流通分析装置。
IPC (2件)：
G01N 24/08 ,  G01R 33/30
FI (2件)：
G01N24/08 510P ,  G01N24/02 510D
引用特許：
審査官引用 (3件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM