特許

J-GLOBAL ID：201503000333292282

三次元計測装置、三次元計測方法及びプログラム

発明者： 降籏 久義
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-220689
公開番号（公開出願番号）：特開2015-155886
出願日： 2014年10月29日
公開日（公表日）： 2015年08月27日
要約：

【課題】微細形状を持つ物体に対して、ロバストに三次元形状を計測できるようにする。【解決手段】マルチスリットの計測線上に識別特徴を加えたパターンを物体に投影し、その画像を取得する。そして、画像から検出した識別特徴の位置に基づいて、その識別特徴1点毎に計測線番号を識別する。このとき、選択した識別特徴の画像上での位置に基づいて、パターンの座標系におけるエピポーラ線の位置及び傾きを計算する。エピポーラ線の位置及び傾きは、選択した識別特徴の位置から視線方向に伸ばした直線を、パターンの座標系に投影することによって計算される。パターンの座標系での選択した識別特徴の位置は、このエピポーラ線上にあるため、エピポーラ線上に識別特徴を持つ計測線をパターン上から探索することにより、選択した識別特徴の計測線番号を識別する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

複数の線から構成され、前記複数の線上にある特徴の少なくとも一部が不等間隔で配置されたパターンを投影手段から物体へ投影する出力手段と、 前記パターンが投影された物体を含む画像を取得する取得手段と、 前記取得手段によって取得された画像から前記投影されたパターンの線及び特徴を検出する検出手段と、 前記検出手段によって検出した前記特徴の位置に基づいて、前記検出手段により検出された前記特徴それぞれが、前記パターンの前記複数の線のどの線に属するかを識別する識別手段と、 前記識別手段の識別結果に基づいて、前記パターンが投影された物体の三次元形状を計測する計測手段と、 を備えることを特徴とする三次元計測装置。

IPC (2件)：

G01B 11/25 ,  G06T 7/60

FI (2件)：

G01B11/25 H ,  G06T7/60 200G

Fターム (29件)：

2F065AA04 ,  2F065AA13 ,  2F065AA14 ,  2F065AA20 ,  2F065AA32 ,  2F065AA37 ,  2F065AA53 ,  2F065DD03 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065HH07 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ42 ,  2F065QQ43 ,  5L096FA03 ,  5L096FA13 ,  5L096FA64 ,  5L096FA73

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-274007
  
• 構造光画像化装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2008-511349   出願人：ゼノジェンコーポレイション
• 計測装置および情報処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2012-150471   出願人：キヤノン株式会社
• 特許第8724121号