特許
J-GLOBAL ID：201503000792790449
計装システム及びその保守方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
志賀 正武
, 高橋 詔男
, 渡邊 隆
, 鈴木 三義
, 村山 靖彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-004367
公開番号（公開出願番号）：特開2015-133002
出願日： 2014年01月14日
公開日（公表日）： 2015年07月23日
要約：
【課題】多点タイプのI/Oモジュールを非冗長化構成で用いる場合であっても、稼働率及び保守性の低下を防止することが可能な計装システム及びその保守方法を提供する。【解決手段】計装システム1は、複数のフィールド機器11を接続可能なI/Oモジュール20(20a〜20d)が装着される複数のスロットSL1を有する接続制御ユニット13と、接続制御ユニット13のスロットSL1に装着されたI/Oモジュール20を冗長化構成にするか或いは非冗長化構成にするかを個別に設定可能であり、接続制御ユニット13のスロットSL1に装着されたI/Oモジュール20のうち、非冗長化構成にする設定がなされているI/Oモジュール20を擬似的な冗長化構成で動作させる上位制御装置(監視装置14、コントローラ30)とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象の測定及び操作対象の操作の少なくとも一方を行うフィールド機器を複数備える計装システムにおいて、
複数の前記フィールド機器を接続可能なI/Oモジュールが装着される複数のスロットを有する接続装置と、
前記接続装置のスロットに装着された前記I/Oモジュールを冗長化構成にするか或いは非冗長化構成にするかを個別に設定可能であり、前記接続装置のスロットに装着された前記I/Oモジュールのうち、非冗長化構成にする設定がなされている前記I/Oモジュールを擬似的な冗長化構成で動作させる上位制御装置と
を備えることを特徴とする計装システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (11件)：
5H220AA01
, 5H220BB15
, 5H220CC02
, 5H220CX05
, 5H220JJ02
, 5H220JJ04
, 5H220JJ12
, 5H220JJ17
, 5H220JJ24
, 5H220KK03
, 5H220MM08
