特許
J-GLOBAL ID:201503007642100589
微構造解析方法、そのプログラム及び微構造解析装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人アイテック国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-072361
公開番号(公開出願番号):特開2015-193496
出願日: 2014年03月31日
公開日(公表日): 2015年11月05日
要約:
【課題】多孔質体の捕集性能をより精度よく解析する。【解決手段】位置情報と画素種別情報とが対応づけられた多孔質体データを参照して、複数の仮想球体が組み合わされた曲面体である仮想曲面体を、仮想曲面体によって占有される曲面体画素で空間画素を埋めるように複数配置する(ステップS100)。また、多孔質体データに基づいて流体解析を行うことにより多孔質体内部を流体が通過する際の空間画素毎の流速に関する情報を導出する(ステップS110)。そして、仮想曲面体に関する情報と空間画素毎の流速に関する情報とに基づいて、仮想曲面体毎の等価直径R’iを仮想曲面体毎の体積Vi及び平均流速Uiで重み付けした加重平均である流速加重平均径Ruを導出する(ステップS120)。【選択図】図6
請求項(抜粋):
多孔質体の3次元スキャンにより得られた画素の位置を表す位置情報と、該画素が空間であることを表す空間画素か物体であることを表す物体画素かを表す画素種別情報と、を対応づけた多孔質体データを用いた該多孔質体の微構造解析方法であって、
(a)前記多孔質体データを参照して、1つの仮想球体又は複数の仮想球体が組み合わされた曲面体を仮想曲面体とし、該仮想曲面体によって占有される画素である曲面体画素で前記空間画素を埋めるように該仮想曲面体を複数配置するステップと、
(b)前記多孔質体データに基づいて流体解析を行うことにより前記多孔質体内部を流体が通過する際の前記空間画素毎の流速に関する情報を導出するステップと、
(c)前記配置された仮想曲面体に関する情報に基づいて、該仮想曲面体を球体に換算した際の直径である等価直径と、該仮想曲面体の体積と、を該仮想曲面体毎に導出し、前記配置された仮想曲面体に関する情報と前記空間画素毎の流速に関する情報とに基づいて、該仮想曲面体を通過する前記流体の平均流速を該仮想曲面体毎に導出し、前記仮想曲面体毎の等価直径を前記仮想曲面体毎の体積及び平均流速で重み付けした加重平均である流速加重平均径を導出することで、前記多孔質体の微構造を解析する、
微構造解析方法。
IPC (2件):
FI (2件):
C04B38/00 304Z
, G01N23/04
Fターム (12件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001FA06
, 2G001GA06
, 2G001GA08
, 2G001HA14
, 2G001LA06
, 2G001MA05
, 2G001MA06
, 4G019GA02
引用特許:
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