特許

J-GLOBAL ID：201503015627677040

導電材料の疲労試験方法

発明者： 因 浩之 ,  案納 芙美代 ,  松永 大輔 ,  北原 弘基 ,  安藤 新二 ,  津志田 雅之 ,  小川 俊文
出願人/特許権者： 大電株式会社 ,  国立大学法人 熊本大学
代理人 (4件)： 中前 富士男 ,  清井 洋平 ,  来田 義弘 ,  今中 崇之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-132151
公開番号（公開出願番号）：特開2015-158365
出願日： 2012年06月11日
公開日（公表日）： 2015年09月03日
要約：

【課題】平均結晶粒径の調整と結晶組織の均質化が図られた疲労試験片を使用することが可能な導電材料の疲労試験方法を提供する。【解決手段】導電材料の疲労試験方法は、導電材料で作製した被加工物12に、加工度が1.5以上の塑性変形を加えて、平均結晶粒径が50μm以下の結晶組織で構成される原試験体11を作製する第1工程と、原試験体11に加える塑性変形の加工度を0.3以下にして、原試験体11に形成された結晶組織の状態を維持しながら、原試験体11から薄板試験片10を作製する第2工程とを有し、作製された薄板試験片10を片持ち支持し共振させて薄板試験片10に繰り返し曲げ変形を加えて、薄板試験片10が破断するまでの繰り返し回数を求める。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

導電材料で作製した被加工物に、加工度が1.5以上の塑性変形を加えて、平均結晶粒径が50μm以下の結晶組織で構成される原試験体を作製する第1工程と、 前記原試験体に加える塑性変形の加工度を0.3以下にして、該原試験体に形成された結晶組織の状態を維持しながら、前記原試験体から薄板試験片を作製する第2工程とを有し、 作製された前記薄板試験片を片持ち支持し共振させて該薄板試験片に繰り返し曲げ変形を加えて、該薄板試験片が破断するまでの繰り返し回数を求めることを特徴とする導電材料の疲労試験方法。

IPC (1件)：

G01N 3/34

FI (1件)：

G01N3/34 C

Fターム (7件)：

2G061AA07 ,  2G061AB05 ,  2G061BA04 ,  2G061CA01 ,  2G061CB05 ,  2G061CC20 ,  2G061EC03