特許
J-GLOBAL ID：201503019999565057
光学式座標測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
福島 祥人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-069859
公開番号（公開出願番号）：特開2015-190928
出願日： 2014年03月28日
公開日（公表日）： 2015年11月02日
要約：
【課題】正確な測定を容易に行うことを可能にする光学式座標測定装置を提供する。【解決手段】光学式座標測定装置は、主撮像部、副撮像部、表示部160およびプローブを備える。プローブは、複数の発光部およびスタイラスを含む。スタイラスは、測定対象物を測定するために測定対象物に接触される接触部を有する。主撮像部は複数の発光部を撮像する。副撮像部は、複数の発光部と一定の位置関係を有するようにプローブに設けられ、測定対象物の少なくとも一部を撮像する。副撮像部により得られる測定対象物の画像が撮像画像SIとして表示部160に表示される。主撮像部により得られる画像データに基づいて複数の発光部の位置が算出される。算出された複数の発光部と複数の発光部に対する副撮像部の位置関係とに基づいて、接触部により接触されるべき測定対象物上の測定位置を示す画像P1aが撮像画像SI上に表示される。【選択図】図26
請求項（抜粋）：
測定対象物を測定するために測定対象物に接触される接触部と複数のマーカとを有するプローブと、
予め定められた撮像位置に固定され、前記プローブの前記複数のマーカを撮像する第1の撮像部と、
前記複数のマーカに対して一定の位置関係を有するように前記プローブに設けられ、測定対象物の少なくとも一部を撮像する第2の撮像部と、
前記第1の撮像部により得られる前記複数のマーカの画像を示す画像データに基づいて前記複数のマーカの位置をそれぞれ算出する算出部と、
前記第2の撮像部により得られる測定対象物の少なくとも一部の画像を撮像画像として表示する表示部と、
前記算出部により算出された前記複数のマーカの位置と前記複数のマーカに対する前記第2の撮像部の位置関係とに基づいて、前記接触部により接触されるべき測定対象物上の測定位置を示す第1の指標を前記撮像画像上に表示するように前記表示部を制御する制御部とを備える、光学式座標測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (21件)：
2F062AA04
, 2F062EE01
, 2F062EE62
, 2F062GG71
, 2F062HH01
, 2F062HH13
, 2F062LL11
, 2F065AA04
, 2F065AA37
, 2F065BB05
, 2F065BB29
, 2F065CC00
, 2F065FF09
, 2F065GG07
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ16
, 2F065JJ26
, 2F065QQ23
, 2F065SS01
, 2F065SS13
