特許

J-GLOBAL ID：201503054087629266

金属多孔体の表面積の測定方法及び金属多孔体の製造方法

発明者： 杉原 崇康 ,  後藤 健吾 ,  土子 哲 ,  粕谷 浩二 ,  梅本 登紀子 ,  細江 晃久 ,  西村 淳一 ,  奥野 一樹 ,  木村 弘太郎 ,  境田 英彰
出願人/特許権者： 住友電気工業株式会社
代理人 (3件)： 酒井 正己 ,  加々美 紀雄 ,  須田 芳國
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-181980
公開番号（公開出願番号）：特開2015-049175
出願日： 2013年09月03日
公開日（公表日）： 2015年03月16日
要約：

【課題】金属多孔体など従来の表面積の測定方法では表面積の測定が困難な形状を有する構造物の表面積の測定に適した測定方法、及び前記測定方法を利用した金属多孔体の製造方法を提供する。【解決手段】金属の純度が金属多孔体と同じであって、表面積が互いに異なる金属片を複数用意し、導電性液体中で前記金属片のそれぞれの静電容量を測定して前記静電容量と前記表面積との関係を検量線に表す工程と、前記導電性液体中で前記金属多孔体の静電容量を測定する工程と、を有し、前記検量線から前記金属多孔体の表面積を算出する、表面積の測定方法。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

金属の純度が金属多孔体と同じであって、表面積が互いに異なる金属片を複数用意し、導電性液体中で前記金属片のそれぞれの静電容量を測定して、前記静電容量と前記表面積との関係を検量線に表す工程と、 前記導電性液体中で前記金属多孔体の静電容量を測定する工程と、 を有し、 前記検量線から前記金属多孔体の表面積を算出する、表面積の測定方法。

IPC (6件)：

G01B 7/32 ,  C22C 1/08 ,  H01M 4/80 ,  C25D 1/08 ,  H01G 11/70 ,  H01G 11/84

FI (6件)：

G01B7/32 ,  C22C1/08 D ,  H01M4/80 C ,  C25D1/08 ,  H01G11/70 ,  H01G11/84

Fターム (21件)：

2F063AA48 ,  2F063BA30 ,  2F063BB02 ,  2F063BB05 ,  2F063DA02 ,  2F063DA05 ,  2F063DA21 ,  2F063DD02 ,  2F063HA04 ,  2F063HA16 ,  5E078AB06 ,  5E078FA04 ,  5E078FA13 ,  5E078FA24 ,  5H017AA03 ,  5H017BB01 ,  5H017BB16 ,  5H017CC05 ,  5H017EE05 ,  5H017HH04 ,  5H017HH10

引用特許：

審査官引用 (2件)

• めっき表面積の測定装置並びに電解めっき装置及び電解めっき方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-040484   出願人：新光電気工業株式会社
• エネルギー蓄積電極構造のナノ材料を特性化する計量方法および装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2011-549331   出願人：アプライドマテリアルズインコーポレイテッド