粒径及び濃度測定のための検出スキーム

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：平木祐輔 , 関谷三男 , 渡辺敏章 , 松丸秀和 , 今村健一
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-544046
公開番号（公開出願番号）：特表2015-500467
出願日： 2012年11月29日
公開日（公表日）： 2015年01月05日
要約：

本発明は、粒径及び濃度を測定するシステム及び方法を提供する。集束され、統合され、構造化されたレーザビームを準備し、ビームと粒子をインタラクトさせ、インタラクション信号及び1単位時間あたりのビームと粒子の間のインタラクションの数を測定し、アルゴリズムを用いて、インタラクション信号を粒径にマッピングし、1単位時間あたりのインタラクションの数を濃度にマッピングする。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

ガウスビームを生成するレーザと、前記ガウスレーザビームを構造化された暗視野ビームに変換する手段と、前記暗視野ビームを、照射されている前記暗視野ビームを通って移動する粒子にフォーカスするフォーカスレンズと、一方が前記暗視野ビームの各強度ローブ上に配置される2つのディテクタと、を備える粒子監視システム。

IPC (3件)：

G01N 15/02 , G01N 15/00 , G01N 15/14

FI (3件)：

G01N15/02 C , G01N15/00 A , G01N15/14 D

引用特許：

審査官引用 (6件)

特許第7746469号
血液細胞及びこれに類するものを分化するために光散乱を検出するための光ファイバ装置
公報種別：公表公報出願番号：特願2004-530873 出願人：コールターインターナショナルコーポレイション
粒子分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2010-198593 出願人：シスメックス株式会社

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引用文献：

審査官引用 (1件)

Singular beams in metrology and nanotechnology

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