特許
J-GLOBAL ID:201503057160145182

表面プラズモン増強蛍光測定方法および表面プラズモン増強蛍光測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 鷲田 公一 ,  木曽 孝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-151564
公開番号(公開出願番号):特開2015-021889
出願日: 2013年07月22日
公開日(公表日): 2015年02月02日
要約:
【課題】被検出物質を高感度に検出することができる、GC-SPFSを利用する表面プラズモン共鳴蛍光分析方法を提供すること。【解決手段】回折格子を形成された金属膜と、前記回折格子に固定化された捕捉体と、前記捕捉体に結合した、蛍光物質で標識された被検出物質とを有するチップを準備する。前記回折格子において表面プラズモンの定在波が発生するように、前記回折格子に励起光を照射する。前記蛍光物質から放出された蛍光を検出して蛍光シグナルを得る。【選択図】図1
請求項(抜粋):
被検出物質を標識する蛍光物質が、表面プラズモン共鳴に基づく電場により励起されて発した蛍光を検出して、前記被検出物質の存在またはその量を検出する表面プラズモン増強蛍光測定方法であって、 回折格子を形成された金属膜と、前記回折格子に固定化された捕捉体と、前記捕捉体に結合した、蛍光物質で標識された被検出物質とを有するチップを準備する工程と、 前記回折格子において表面プラズモンの定在波が発生するように、前記回折格子に励起光を照射する工程と、 前記蛍光物質から放出された蛍光を検出して蛍光シグナルを得る工程と、 を含む、表面プラズモン増強蛍光測定方法。
IPC (1件):
G01N 21/64
FI (1件):
G01N21/64 G
Fターム (13件):
2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043EA01 ,  2G043EA14 ,  2G043GA03 ,  2G043GA07 ,  2G043GB05 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043HA15 ,  2G043JA02 ,  2G043KA09
引用特許:
審査官引用 (13件)
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引用文献:
審査官引用 (5件)
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