特許
J-GLOBAL ID：201503066456310455

実装装置

発明者：
山蔭 勇介

山蔭 勇介 について

, 
天野 雅史

天野 雅史 について


出願人/特許権者：
富士機械製造株式会社

富士機械製造株式会社 について


代理人 (2件)： 特許業務法人アイテック国際特許事務所 ,  片岡 友希
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-141005
公開番号（公開出願番号）：特開2015-015357
出願日： 2013年07月04日
公開日（公表日）： 2015年01月22日
要約：
【課題】実装装置において、保持された部品の位置ずれの検出精度をより高める。【解決手段】部品実装機11は、実装ヘッド24に吸着された部品と、第1基準マーク51と、少なくとも第1基準マーク51とは光学的特性の異なる第2基準マーク52とを撮像する。例えば、部品によっては、その照明条件などを変更して撮像する場合があるが、ここでは、光学的特性の異なる複数の基準マークを備えるから、部品により適した基準マークを用いて部品を撮像可能である。また、この撮像画像を用いて、実装ヘッド24に吸着された部品と基準マークとの相対位置をより正確に検出することができる。この部品実装機11では、第1基準マーク51及び第2基準マーク52を装着及び取外し可能である第1装着部54及び第2装着部56を備えており、これらの基準マークを取り替え可能に構成している。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
1以上の部品を基板上に実装する実装装置であって、 前記部品を保持し前記基板上へ移動させる実装ヘッドと、前記実装ヘッドに保持された部品と前記実装ヘッドが有する所定の基準マークとを撮像する撮像部と、を備える実装処理部を備え、 前記実装処理部は、前記所定の基準マークとして、第1基準マークと、少なくとも前記第1基準マークとは光学的特性の異なる第2基準マークとを備えている、 実装装置。
IPC (2件)：
H05K 13/04 ,  H05K 13/08
FI (2件)：
H05K13/04 M ,  H05K13/08 Q
Fターム (15件)：
5E313AA02 ,  5E313AA11 ,  5E313AA15 ,  5E313CC04 ,  5E313DD01 ,  5E313DD12 ,  5E313EE01 ,  5E313EE02 ,  5E313EE03 ,  5E313EE25 ,  5E313EE34 ,  5E313FF28 ,  5E313FF33 ,  5E313FF40 ,  5E313FG01
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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