特許
J-GLOBAL ID：201503098392189940
金属光沢面に塗布される透明樹脂の塗布領域と塗布量を検出する方法及びその光コヒーレンストモグラフィー計測システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
清水 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-220710
公開番号（公開出願番号）：特開2015-081874
出願日： 2013年10月24日
公開日（公表日）： 2015年04月27日
要約：
【課題】 金属光沢面に塗布される透明樹脂の塗布の塗布領域と塗布量を自動判定可能にする金属光沢面に塗布される透明樹脂の塗布領域と塗布量を検出する方法及びその光コヒーレンストモグラフィー計測システムを提供する。【解決手段】 金属光沢面に塗布される透明樹脂の塗布領域と塗布量を検出する方法において、低コヒーレンス光源2からの光を物体光9と参照光7に2分割し、前記物体光9を金属光沢面22に局所的に塗布される透明樹脂23に走査して照射し回帰させ、この回帰した物体光9と前記参照光7を合波し、物体光路長と参照光路長との差を可変とし、前記合波光を分光する回折格子13で分光された前記合波光のスペクトルを検出し、この検出データをフーリエ逆変換処理して、前記透明樹脂23の断層画像を形成し、この断層画像の解析により前記透明樹脂23の塗布領域と塗布量を検出し、表示する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
低コヒーレンス光源からの光を物体光と参照光に2分割し、前記物体光を金属光沢面に局所的に塗布される透明樹脂に走査して照射し回帰させ、該回帰した物体光と前記参照光を合波し、物体光路長と参照光路長との差を可変とし、前記合波光を分光する回折格子で分光された前記合波光のスペクトルを検出し、該検出データをフーリエ逆変換処理して、前記接着剤の断層画像を形成し、該断層画像の解析により前記透明樹脂の塗布領域と塗布量を検出し、表示することを特徴とする金属光沢面に塗布される透明樹脂の塗布領域と塗布量を検出する方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (16件)：
2G059AA03
, 2G059AA05
, 2G059BB08
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059EE12
, 2G059FF02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059PP04
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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