特許
J-GLOBAL ID:201303031025289090
化粧肌の評価方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人田治米国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-251842
公開番号(公開出願番号):特開2013-108766
出願日: 2011年11月17日
公開日(公表日): 2013年06月06日
要約:
【課題】化粧膜の分布や厚さという付着状態と、化粧膜の下地となる皮膚内部の光学特性を同時に評価し、それらが化粧肌の見えにどのように影響しているかを評価できるようにする。【解決手段】可視域で波長の異なる複数の低コヒーレンス光を使用して化粧肌の光干渉断層撮影画像(以下、OCT画像という)を各波長について取得し、各波長のOCT画像に基づいて化粧膜の付着状態及び化粧肌内部の深さ方向の光学特性を評価する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
可視域の低コヒーレンス光を使用して、化粧肌の光干渉断層撮影画像(以下、OCT画像という)を、化粧肌の内部散乱の干渉信号の画像を含めて取得し、OCT画像に基づいて化粧膜の付着状態及び化粧肌内部の深さ方向の光学特性を評価する化粧肌の評価方法。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (17件):
2G059AA02
, 2G059BB10
, 2G059BB12
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059EE13
, 2G059FF02
, 2G059GG02
, 2G059GG03
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059HH06
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
引用特許:
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