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J-GLOBAL ID:201602201956497135   整理番号:16A0187906

グラフェン単層における格子点位置の高分解能透過型電子顕微鏡法を用いた定量測定に及ぼす非回転対称収差の効果

Effects of non-rotationally symmetric aberrations on the quantitative measurement of lattice positions in a graphene monolayer using high-resolution transmission electron microscopy
著者 (5件):
資料名:
巻: 64  号:ページ: 311-318  発行年: 2015年10月 
JST資料番号: W1384A  ISSN: 2050-5698  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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高分解能透過型電子顕微鏡(HRTEM)像の非回転対称収差に起因した,グラフェン単層格子原子の固有位置からのずれを,さまざまな収差で定量的に調査した。2回収差の場合,最大0.3Åの格子位置ずれであったが,六角構造を成すグラフェンのままであった。さらに,各々の副格子原子の変動は,像上では,各々の原子が同等の距離で変動することが分かった。このことを応用して,残存収差による原子位置の変動距離から,隣接カーボン原子間の固有の結合長を導出できることが分かった。
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分類 (1件):
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顕微鏡法 
引用文献 (25件):

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