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J-GLOBAL ID：201602212362357106   整理番号：16A0284079

導電性高分子薄膜の分子配向構造の深さ方向解析

著者 (6件)： 水野佑 (名大 院) ,  大野慶太 (名大 院) ,  原光生 (名大 院) ,  永野修作 (名古屋大) ,  山本勝宏 (名古屋工大 大学院) ,  関隆広 (名大 院)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 63rd  ページ： ROMBUNNO.22A-W351-2  発行年： 2016年03月03日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 導電性高分子 ,  *高分子薄膜 ,  *分子配向 ,  *深さプロフィル ,  ポリヘキシルチオフェン ,  計測 ,  X線反射 ,  小角X線散乱 ,  X線反射率法
準シソーラス用語： X線反射率測定

分類 (1件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L)

タイトルに関連する用語 (5件)： 導電性 ,  高分子薄膜 ,  分子配向 ,  深さ方向 ,  解析