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J-GLOBAL ID：201602217884339240   整理番号：16A0235308

PUFによる個体認証セキュリティ技術へのランダムテレグラフノイズの適用

Application of Random Telegraph Noise to Indivisual Authentication Technology Using Physical Unclonable Function (PUF)

著者 (3件)： CHEN Jiezhi (東芝) ,  棚本哲史 (東芝) ,  三谷祐一郎 (東芝)
資料名： 東芝レビュー  (Toshiba Review)
巻： 71  号： 2  ページ： 23-26  発行年： 2016年02月01日 
JST資料番号： F0360A  ISSN： 0372-0462  CODEN： TORBA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： トランジスタの微細化に伴って,近年ランダムテレグラフノイズ(RTN)というトランジスタの動作電流が不規則に揺らぐ現象の影響が顕著になってきている。RTNは,CMOS(相補型金属酸化膜半導体)イメージセンサや,フラッシュメモリ,3次元構造のトランジスタなど,様々なデバイス(以下,チップと呼ぶ)の信頼性に影響を及ぼすことが懸念されている。東芝はこれまで,RTNに寄与する欠陥の時定数に注目し,欠陥時定数のばらつき及びそのばらつきを支配している物理機構を実験的に明らかにしてきた。今回,その欠陥の時定数の特徴と事象のランダム性を利用して,情報セキュリティへの応用,特にPUF(Physical Unclonable Function)への適用を考案した。RTNを適用したPUFは,チップ個体のID(Identifier)を短時間で生成できるうえに,100万回以上利用しても安定してIDを生成できる高い耐性を持つことを実証した。(著者抄録)

シソーラス用語： 認証 ,  *情報セキュリティ ,  *雑音 ,  記号 ,  複製【遺伝】
準シソーラス用語： アイデンティファイア ,  *ランダムテレグラフノイズ ,  *個人認証

分類 (1件)： データ保護  (JD01020V)

引用文献 (4件)：

• Su, Y. et al. ”A 6.3pJ/b 96% Stable Chip-ID Generating Circuit using Process Variations”. 2007 IEEE International Solid- State Circuits Conference (ISSCC). San Francisco, CA, USA, 2007-02, IEEE. 2007, p.406 - 407, 611.
• Mathew, S. K. et al, ”A 0.19pJ/b PVT-Variation-Tolerant Hybrid Physically Unclonable Function Circuit for 100% Stable Secure Key Generation in 22nm CMOS”. 2014 IEEE ISSCC. San Francisco, CA, USA, 2014-02, IEEE. 2014, p.278 - 279.
• 陳 杰智 他.微細電界効果トランジスタにおけるランダムテレグラフノイズを引き起こす欠陥機構の解明.東芝レビュー.68,8,2013,p.27-30.
• Chen, J. et al. ”Further Understandings on Random Telegraph Signal Noise through Comprehensive Studies on Large Time Constant Variation and its Strong Correlations to Thermal Activation Energies”. 2014 Symposium on VLSI Technologies. Honolulu, HI, USA, 2014-06, IEEE. 2014, p.202 - 203.

タイトルに関連する用語 (4件)： 個体 ,  認証 ,  セキュリティ ,  ランダムテレグラフノイズ