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J-GLOBAL ID：201602259883538645   整理番号：16A1279751

サブミクロン球状粒子の機械的特性の計測

著者 (5件)： 近藤光彦 (北大) ,  宍戸信之 (北九州市環境エレクトロニクス研) ,  神谷庄司 (名古屋工大) ,  石川善恵 (産業技術総合研) ,  越崎直人 (北大)
資料名： 日本機械学会年次大会講演論文集(CD-ROM)  (日本機械学会年次大会(CD-ROM))
巻： 2016  ページ： ROMBUNNO.J2210206  発行年： 2016年09月10日 
JST資料番号： X0587C  ISSN： 2424-2667  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,液中に分散させた原料ナノ粒子に,パルスレーザーを照射することでサブミクロンサイズの球状粒子が得られることが発見されたが,このサブミクロン球状粒子の機械的特性は未知である。今回の実験では走査型電子顕微鏡用ナノインデンテーション装置でのサブミクロン球状粒子の強度計測を試みた。B₄C,Cu₂O,TiO₂のサブミクロン球状粒子の破壊試験を行ったところ,B₄C粒子とTiO₂粒子は脆性破壊,Cu₂O粒子は延性破壊を示した。またB₄C粒子の圧壊強度は平均8.82GPaであり,寸法効果も確認できた。(著者抄録)

シソーラス用語： 微粒子 ,  粒子 ,  *機械的性質 ,  *計測 ,  走査電子顕微鏡 ,  *ダイヤモンド圧子 ,  集束イオンビーム ,  脆性破壊 ,  強度
準シソーラス用語： *SEM【顕微鏡】 ,  *サブミクロン粒子 ,  機械的特性 ,  *球状粒子

分類 (1件)： 材料試験  (HB02020U)

タイトルに関連する用語 (4件)： サブ ,  球状粒子 ,  機械的特性 ,  計測