特許
J-GLOBAL ID:201603000033885548
レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
新樹グローバル・アイピー特許業務法人
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-071500
公開番号(公開出願番号):特開2012-226327
特許番号:特許第6022788号
出願日: 2012年03月27日
公開日(公表日): 2012年11月15日
請求項(抜粋):
【請求項1】 (A)アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂、
(B)式(II)で表される酸発生剤、
(D)式(I)で表される化合物及び(E)溶剤を含有するレジスト組成物。
[式(I)中、
R1及びR2は、それぞれ独立に、炭素数1〜12の炭化水素基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数2〜7のアシル基、炭素数2〜7のアシルオキシ基、炭素数2〜7のアルコキシカルボニル基、ニトロ基又はハロゲン原子を表す。
m及びnは、それぞれ独立に、0〜4の整数を表す。]
[式(II)中、
R3及びR4は、それぞれ独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
X1は、2価の炭素数1〜17の飽和炭化水素基を表し、前記2価の飽和炭化水素基に含まれる水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよく、前記2価の飽和炭化水素基に含まれる-CH2-は、-O-又は-CO-で置き換わっていてもよい。
R5は、3員又は4員の環状エーテル構造を含む基を表す。
Z1+は、有機カチオンを表す。]
IPC (2件):
G03F 7/004 ( 200 6.01)
, G03F 7/039 ( 200 6.01)
FI (3件):
G03F 7/004 503 A
, G03F 7/039 601
, G03F 7/004 501
引用特許:
出願人引用 (6件)
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塩及びレジスト組成物
公報種別:公開公報
出願番号:特願2011-029468
出願人:住友化学株式会社
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放射感応性混合物
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-080519
出願人:ヘキストジャパン株式会社
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ポジ型フォトレジスト組成物
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-017237
出願人:富士写真フイルム株式会社
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審査官引用 (6件)
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塩及びレジスト組成物
公報種別:公開公報
出願番号:特願2011-029468
出願人:住友化学株式会社
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放射感応性混合物
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-080519
出願人:ヘキストジャパン株式会社
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ポジ型フォトレジスト組成物
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-017237
出願人:富士写真フイルム株式会社
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