特許
J-GLOBAL ID:201603004687644219
粒子測定装置、空気清浄機、及び、粒子測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
新居 広守
, 寺谷 英作
, 道坂 伸一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-003684
公開番号(公開出願番号):特開2016-128795
出願日: 2015年01月09日
公開日(公表日): 2016年07月14日
要約:
【課題】粒径の測定レンジを大きく確保することができる粒子測定装置などを提供する。【解決手段】気体又は液体である流体中に含まれる粒子2の粒径を測定する粒子測定装置1であって、検知領域DAに光を投光する投光素子111と、検知領域DAに位置する粒子2によって散乱された光の散乱光を受光する受光素子112とを有する粒子2検出センサと、(i)受光素子112からの出力を示すセンサ信号に含まれる粒子2に対応したパルス波形のピーク値が所定の閾値未満の場合、当該ピーク値を用いて粒子2の粒径を演算し、(ii)ピーク値が閾値以上の場合、閾値未満の所定の電圧におけるパルス波形の時間幅を用いて粒子2の粒径を演算する演算部162とを備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
気体又は液体である流体中に含まれる粒子の粒径を測定する粒子測定装置であって、
検知領域に光を投光する投光素子と、前記検知領域に位置する前記粒子によって散乱された光の散乱光を受光する受光素子とを有する粒子検出センサと、
(i)前記受光素子からの出力を示すセンサ信号に含まれる前記粒子に対応したパルス波形のピーク値が所定の閾値未満の場合、当該ピーク値を用いて前記粒子の粒径を演算し、(ii)前記ピーク値が前記閾値以上の場合、前記閾値未満の所定の値における前記パルス波形の時間幅を用いて前記粒子の粒径を演算する演算部とを備える
粒子測定装置。
IPC (1件):
FI (3件):
G01N15/06 C
, G01N15/06 D
, G01N15/06 E
引用特許:
審査官引用 (9件)
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特開平1-216232
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検出装置および検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-036074
出願人:シャープ株式会社
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空気清浄機
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-270545
出願人:リンナイ株式会社
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