特許
J-GLOBAL ID：201603006012059786

被検物質の定量方法及びそのための定量デバイス

発明者：
北森 武彦

北森 武彦 について

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馬渡 和真

馬渡 和真 について

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清水 久史

清水 久史 について

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田澤 英克

田澤 英克 について


出願人/特許権者：
マイクロ化学技研株式会社

マイクロ化学技研株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人谷川国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-123845
公開番号（公開出願番号）：特開2016-003935
出願日： 2014年06月16日
公開日（公表日）： 2016年01月12日
要約：
【課題】短時間で、被検物質を高感度、好ましくは可算個レベルで定量可能な新規な定量方法を提供すること。【解決手段】定量に用いられるデバイスは、第1の基板と、第1の基板と接合される第2の基板と、第1及び第2の基板の接合面に形成され、第1及び第2の基板の外部に連通する流路と、流路の一部領域であって、被検物質に特異的に結合する第1の特異結合物質が固定化された特異結合物質固定化領域とを具備し、流路の高さが10nm〜10μm、特異結合物質固定化領域の長さが1μm〜10cmである。この流路に試料を流通させて試料中の被検物質を、第1の特異結合物質に結合させ、洗浄後、被検物質に特異的に結合する、標識された第2の特異結合物質を流路に流通させて第1の特異結合物質に結合した被検物質と第2の特異結合物質とを結合させ、洗浄後、被検物質に結合した標識を定量する。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
第1の基板と、該第1の基板と接合される第2の基板と、該第1及び第2の基板の接合面に形成され、該第1及び第2の基板の外部に連通する流路と、該流路の一部領域であって、被検物質に特異的に結合する第1の特異結合物質が固定化された特異結合物質固定化領域とを具備し、前記流路の高さが10nm〜10μm、前記特異結合物質固定化領域の長さが1μm〜10cmである、試料中の被検物質の定量デバイスの前記流路に前記試料を流通させて該試料中の前記被検物質を、前記第1の特異結合物質に結合させる工程と、 前記特異結合物質固定化領域を洗浄後、前記被検物質に特異的に結合する、標識された第2の特異結合物質を前記流路に流通させて前記第1の特異結合物質に結合した被検物質と第2の特異結合物質とを結合させる工程と、 前記特異結合物質固定化領域を洗浄後、被検物質に結合した標識を定量する工程とを含む、試料中の被検物質の定量方法。
IPC (3件)：
G01N 33/53 ,  G01N 33/543 ,  G01N 37/00
FI (3件)：
G01N33/53 D ,  G01N33/543 545A ,  G01N37/00 101
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)
引用文献：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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