特許
J-GLOBAL ID：201603006395941380

光周波数コムを使ったレーザ周波数測定方法及び装置

発明者：
川▲崎▼ 和彦

川▲崎▼ 和彦 について


出願人/特許権者：
株式会社ミツトヨ

株式会社ミツトヨ について


代理人 (3件)： 高矢 諭 ,  松山 圭佑 ,  牧野 剛博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-141965
公開番号（公開出願番号）：特開2016-017892
出願日： 2014年07月10日
公開日（公表日）： 2016年02月01日
要約：
【課題】周波数変動が大きく安定度の低いレーザの周波数を測定可能とする。【解決手段】測定の基準となる光周波数コム100と測定対象となるレーザ150を干渉させて発生するビート信号の周波数を測定して、前記レーザ150の周波数を測定する、光周波数コム100を使ったレーザ周波数測定において、前記ビート信号の周波数が所定の値になるように、前記光周波数コム100の繰り返し周波数frepとCEO周波数fCEOの少なくとも一方を変化させ、前記ビート信号の周波数を測定して、前記レーザ150の発振周波数を測定する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
測定の基準となる光周波数コムと測定対象となるレーザを干渉させて発生するビート信号の周波数を測定して、前記レーザの周波数を測定する、光周波数コムを使ったレーザ周波数測定方法において、 前記ビート信号の周波数が所定の値になるように、前記光周波数コムの繰り返し周波数frepとCEO周波数fCEOの少なくとも一方を変化させ、前記ビート信号の周波数を測定して、前記レーザの発振周波数を測定することを特徴とする、光周波数コムを使ったレーザ周波数測定方法。
IPC (3件)：
G01R 23/10 ,  G01R 23/14 ,  H01S 3/00
FI (3件)：
G01R23/10 H ,  G01R23/14 C ,  H01S3/00 G
Fターム (9件)：
2G029AA04 ,  2G029AB05 ,  2G029AC03 ,  2G029AC08 ,  2G029AD01 ,  2G029AF07 ,  2G029AH01 ,  5F172NP04 ,  5F172NP18
引用特許：
審査官引用 (3件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM