特許
J-GLOBAL ID:201603008998442640

データ処理装置、データ処理方法、及び、プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 稲本 義雄 ,  西川 孝
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-079579
公開番号(公開出願番号):特開2013-210755
特許番号:特許第6020880号
出願日: 2012年03月30日
公開日(公表日): 2013年10月10日
請求項(抜粋):
【請求項1】 複数の時系列信号の混合信号を表すデータを取得するデータ取得部と、 前記データを用いて、前記複数の時系列信号のうちの一の時系列信号をモデリングするためのモデルパラメータであって、各ファクタの状態が初期状態である初期状態確率と、各ファクタの状態が遷移する遷移確率と、各ファクタの状態の組み合わせにおいて観測される前記データの観測値の平均値を求めるのに用いられる、各ファクタの各状態に固有の固有波形と、各ファクタの状態の組み合わせにおいて観測される前記データの観測値の分散とを含むモデルパラメータを有する確率生成モデルの各ファクタの状態にいる状態確率を求める状態推定を行う状態推定部と、 前記状態確率を用いて、前記確率生成モデルの学習を行うモデル学習部と を備え、 前記モデル学習部は、 前記一の時系列信号に特有の制約の下で、前記固有波形を求める波形分離学習を行う波形分離学習部と、 前記分散を求める分散学習を行う分散学習部と、 前記初期状態確率と、前記遷移確率とを求める状態変動学習を行う状態変動学習部と を有する データ処理装置。
IPC (3件):
G06F 19/00 ( 201 1.01) ,  G01R 21/06 ( 200 6.01) ,  G06Q 50/06 ( 201 2.01)
FI (3件):
G06F 19/00 100 ,  G01R 21/06 F ,  G06Q 50/06
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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引用文献:
出願人引用 (1件)
  • パターン認識と機械学習 下 - ベイズ理論による統計的予測, 20080701, 第1版, pp.352-353
審査官引用 (1件)
  • パターン認識と機械学習 下 - ベイズ理論による統計的予測, 20080701, 第1版, pp.352-353

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